| 标准编号 | GB/T 20111.5-2020 (GB/T20111.5-2020) | | 中文名称 | 电气绝缘系统 热评定规程 第5部分:设计寿命5000h及以下的应用 | | 英文名称 | Electrical insulation systems--Procedures for thermal evaluation - Part 5: Applications with a designed life of 5 000 h or less | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | K15 | | 国际标准分类 | 29.080.30 | | 字数估计 | 10,179 | | 发布日期 | 2020-06-02 | | 实施日期 | 2020-12-01 | | 引用标准 | GB/T 20111.1; GB/T 20111.2; GB/T 20111.3; GB/T 20111.4; GB/T 20112 | | 采用标准 | IEC 61857-31-2017, MOD | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | GB/T 20111的本部分规定了设计寿命为5 000 h及以下的电气绝缘系统(EIS)的热评定试验程序。该试验程序遵循GB/T 20112规定的程序，并按设计寿命范围选择相应的试验程序。本部分适用于设计寿命为5 000 h及以下的电气绝缘系统的热评定。 | GB/T 20111.5-2020
电气绝缘系统 热评定规程 第5部分:设计寿命5000h及以下的应用
Electrical insulation systems--Procedures for thermal evaluation--Part 5: Applications with a designed life of 5 000 h or less
1 范围
GB/T 20111的本部分规定了设计寿命为5000h及以下的电气绝缘系统(EIS)的热评定试验程
序。该试验程序遵循GB/T 20112规定的程序,并按设计寿命范围选择相应的试验程序。
本部分适用于设计寿命为5000h及以下的电气绝缘系统的热评定。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 20111.1 电气绝缘系统 热评定规程 第1部分:通用要求 低压(GB/T 20111.1-2015,
IEC 61857-1:2008,IDT)
GB/T 20111.2 电气绝缘系统 热评定规程 第2部分:通用模型的特殊要求 散绕绕组应用
(GB/T 20111.2-2016,IEC 61857-21:2009,IDT)
3 术语和定义
GB/T 20111.1界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
设计寿命
与工作周期为连续或间歇无关,由终端用户、制造方等提议或决定的预期使用时间。
3.2
耐热性
与设计寿命对应的最高设计温度。
3.3
平均寿命
寿命的平均值。
4 电气绝缘系统(EIS)评定
程序A(见第6章)适用于评定设计寿命1500h及以下的电气绝缘系统(EIS),在至少高于最高设
计温度10K的条件下,对一组试样进行单温度点热老化。被测试样的平均寿命应至少为1500h。
程序B(见第6章)适用于评定设计寿命5000h及以下的电气绝缘系统(EIS),在至少高于最高设
计温度10K的条件下,对一组试样进行单温度点热老化。为符合EIS的设计寿命,程序A的老化时间
可延长至5000h。该组评定试样的平均寿命应至少达到1500h。
程序C(见第6章)适用于评定设计寿命5000h及以下的电气绝缘系统(EIS),在高于最高设计温
度20K~30K和30K~35K的温度下,分别对两组试样进行两个温度点的热老化。
如果在按本部分规定的热老化完成之前开始额外的热老化,则按第6章描述的程序A、程序B或程
序C所获得的试验结果,可依据GB/T 20111.1~GB/T 20111.4扩展为较完整的热评定,此时,本部分
的热老化试验可作为完整热老化的筛选试验。此外,GB/T 20111.1和GB/T 20111.4可能会要求热评
定包含一个基准EIS,以确定相对耐热性(RTE)。当需要扩展热评定时,对其他应用的评定应增加一个
按GB/T 20111.4试验方法评定的基准电气绝缘系统(EIS)。
5 试品和测试设备
应按照GB/T 20111.4所述的方法确定试品和试验设备。
6 试验程序
6.1 程序A(单温度点热老化)---确定设计寿命1500h及以下应用的耐热性
依据选择的试验方法的程序,一个试验周期包含如下项目:
---符合GB/T 20112规定的热老化分周期;
---符合GB/T 20111.4规定的条件处理分周期,例如,可符合GB/T 20111.2或GB/T 20111.3的
规定;
---按照GB/T 20111.4选择的试验方法,确定诊断试验。选定的老化温度应至少高于最高设计
温度10K。
被评定试样的平均寿命至少为1500h。
为保证电气绝缘系统(EIS)在击穿前累积至少1500h的寿命,老化分周期应为168h。
注:实际上,通过九个老化循环、累积寿命至少1500h的验证试验得出老化周期为168h。
如果一组试样老化超过1500h的原始试验时间,试验可在达到目标时终止,也可以继续进行热老
化以实现更高的寿命评定。
6.2 程序B(单温度点热老化)---确定设计寿命5000h及以下应用的耐热性
程序A中规定单温度点老化可以延长,以积累更长的老化时间,最多可延长时间至5000h。
6.3 程序C(双温度点热老化)---确定设计寿命5000h及以下应用的耐热性
对于双温度点热老化的应用,宜对两组待评电气绝缘系统(EIS)在两个温度分别进行循环试验。
一个试验周期包括如下项目:
---符合GB/T 20112规定的热老化分周期;
---按GB/T 20111.4所选择的试验方法确定诊断试验。温度点的选择可参考如下规定:
● 低温点应比预期的最高设计温度高20K~30K;
● 高温点应比预期的最高设计温度高30K~35K;
● 高温点宜比低温点高10K。
7 数据分析
7.1 程序A和程序B试验的数据分析
在达到规定的累积时间之前,试样未失效且电气绝缘系统(EIS)未击穿时评定和确定耐热等级。
单温度点热老化所得结果不能作为推测耐热等级的外推依据。进行热老化的电气绝缘系统(EIS)在失
效之前,需达到其预期寿命。
7.2 程序C试验的数据分析
为确立老化图,较高温度下老化的一组试样应完成试验,达到寿命终点,另一组在低温度点老化的
试样,试验可完成或中断。当高温度点老化完成,而低温度点老化终止时,TE为保守值。
使用两组试验数据,将其绘制到所需的时间坐标上,得到对应的寿命时间。
8 试验报告
试验报告应包括所有记录、相关试验信息和数据分析等,至少包括如下内容:
---所采用本部分的内容;
---电气绝缘系统(EIS)试验的过程;
---老化温度和老化周期;
-......
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