GB/T 22319.7-2015 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/T 22319.7-2015 | 134 | GB/T 22319.7-2015 | [PDF]天数 <=3 | 石英晶体元件参数的测量 第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 22319.7-2015 (GB/T22319.7-2015) |
| 中文名称 | 石英晶体元件参数的测量 第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量 |
| 英文名称 | Measurement of quartz crystal unit parameters -- Part 7: Measurement of activity dips of quartz crystal units |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L21 |
| 国际标准分类 | 31.140 |
| 字数估计 | 7,748 |
| 发布日期 | 2015-06-02 |
| 实施日期 | 2016-02-01 |
| 采用标准 | IEC 60444-7-2004, IDT |
| 标准依据 | 国家标准公告2015年第19号 |
| 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 范围 | GB/T 22319的本部分规定了在温度范围内石英晶体元件活性跳变的测量方法。 |
GB/T 22319.7-2015
Measurement of quartz crystal unit parameters.Part 7:Measurement of activity dips of quartz crystal units
ICS 31.140
L21
中华人民共和国国家标准
石英晶体元件参数的测量
第7部分:石英晶体元件
活性跳变的测量
2015-06-02发布
2016-02-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
前言
GB/T 22319《石英晶体元件参数的测量》分为如下几部分:
---第1部分:用π型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法;
---第2部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法;
---第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率和负载谐振电阻RL 的测量方法及其
他导出参数的计算;
---第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法;
---第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量;
---第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量;
---第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具;
---第9部分:石英晶体元件寄生谐振的测量。
本部分为GB/T 22319的第7部分。
本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本部分使用翻译法等同采用IEC 60444-7:2004《石英晶体元件参数的测量 第7部分:石英晶体元
件活性跳变和频率跳变的测量》。
本部分作了下列编辑性修改:
---将表1中脚注“*”改为脚注“a”;
---将3.3中评估公式序号(A)~(D)分别改为a)~d);
---删除评估公式a)前面的“频率跳变”和公式c)前面的“活性跳变”。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口。
本部分起草单位:中国电子元件行业协会压电晶体分会、南京中电熊猫晶体科技有限公司、唐山晶
源裕丰电子股份有限公司、郑州原创电子科技有限公司。
本部分主要起草人:章怡、梁生元、胡志雄、邹飞。
石英晶体元件参数的测量
第7部分:石英晶体元件
活性跳变的测量
1 范围
GB/T 22319的本部分规定了在温度范围内石英晶体元件活性跳变的测量方法。
2 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
2.1
活性跳变 activitydip
石英晶体元件在规定负载电容及激励电平下,在窄温度范围内由不同振动模式的耦合而引起负载
谐振频率和(或者)谐振电阻的不希望的变化(见图1及图2)。
2.2
石英晶体元件在窄的温度范围内发生的不希望的扰......