| 标准编号 | GB/T 29306.1-2012 (GB/T29306.1-2012) | | 中文名称 | 绝缘材料在300 MHz以上频率下介电性能测定方法 第1部分：总则 | | 英文名称 | Recommended methods for the determination of the dielectric properties of insulating materials at frequencies above 300 MHz -- Part 1: General | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | K15 | | 国际标准分类 | 29.035.01 | | 字数估计 | 12,185 | | 引用标准 | GB/T 1409-2006; GB/T 29306.2-2012 | | 采用标准 | IEC 60377-1-1973, MOD | | 标准依据 | 国家标准公告2012年第41号 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | GB/T 29306的本部分规定了绝缘材料介电性能的试验方法。本部分适用于测定微波频率范围(即从约300 MHZ一直到光频)中介质材料的相对电容率、介质损耗因数和与此有关的量, 如损耗指数。 | GB/T 29306.1-2012
Recommended methods for the determination of the dielectric properties of insulating materials at frequencies above 300 MHz.Part 1: General
ICS 29.035.01
K15
中华人民共和国国家标准
绝缘材料在300MHz以上频率下
介电性能测定方法
第1部分:总则
(IEC 60377-1:1973,MOD)
2012-12-31发布
2013-06-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 目的 1
4 术语和定义 2
5 影响介质材料介电性能的因素 3
6 测量方法的概述 4
7 试验步骤 7
8 试验报告 7
前言
GB/T 29306《绝缘材料在300MHz以上频率下介电性能测定方法》分为以下几个部分:
---第1部分:总则;
---第2部分:谐振法。
本部分为GB/T 29306的第1部分。
本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本部分使用重新起草法修改采用IEC 60377-1:1973《绝缘材料在300MHz以上频率下介电性能测
定方法 第1部分:总则》。
本部分与IEC 60377-1:1973相比存在技术性差异,这些差异涉及的条款已通过在其外侧页边空白
位置的垂直单线(︱)进行了标示。
主要技术变化如下:
---增加了第2章的规范性引用文件,并将IEC 60250:1969替换为GB/T 1409-2006;
---增加了第2章后,章条号已相应做了修改;
---删除了IEC 60377-1:1973中涉及的IEC 60377-3和IEC 60377-4(IEC 无原文)。
本部分由中国电器工业协会提出。
本部分由全国电气绝缘材料与绝缘系统评定标准化技术委员会(SAC/TC301)归口。
本部分起草单位:桂林电器科学研究所、西安交通大学、机械工业北京电工技术经济研究所。
本部分主要起草人:王先锋、曹晓珑、刘亚丽、李卫、罗哲、郭丽平。
绝缘材料在300MHz以上频率下
介电性能测定方法
第1部分:总则
1 范围
GB/T 29306的本部分规定了绝缘材料介电性能的试验方法。
本部分适用于测定微波频率范围(即从约300MHz一直到光频)中介质材料的相对电容率、介质损
耗因数和与此有关的量,如损耗指数。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损
耗因数的推荐方法(IEC 60250:1969,MOD)
GB/T 29306.2-2012 绝缘材料在300MHz以上频率下介电性能测定方法 第2部分:谐振法
(IEC 60377-2:1977,MOD)
3 目的
绝缘材料介电性能的测定方法大致可分为两类:
1) 当外施电磁场的波长比试样尺寸大时,则可以采用集中参数法。这些比较简单的方法在
GB/T 1409-2006中已规定,其频率范围为工频至300MHz。
2) 当试样周围电磁场的空间变化不能忽略时应采用分布参数法。其频率范围为300MHz至
光频。
在300MHz这个“临界”频率(如图1斜线区所示)附近的狭窄频率范围内,究竟可以采用哪一组方
法,这主要根据试样的尺寸和电容率来确定。
本部分规定的试验方法与较低频率(见GB/T 1409-2006)下所采用的试验方法不同,本部分采用
的试样和试验装置尺寸大于或相当于试验频率的电磁场波长。
理论上,本部分只适用于具有绝对真空磁导率的材料,对于反磁和顺磁材料(所谓非磁性材料),通
常能得到好的近似值,而对于亚铁和铁磁材料,必须选用一些特殊方法将介电性能和磁性能分开。但
是,这些方......
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