GB/T 44937.8-2025 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/T 44937.8-2025 | 374 | GB/T 44937.8-2025 | [PDF]天数 <=4 | 集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 IC带状线法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 44937.8-2025 (GB/T44937.8-2025) |
| 中文名称 | 集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 IC带状线法 |
| 英文名称 | Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripeline method |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L56 |
| 国际标准分类 | 31.200 |
| 字数估计 | 18,159 |
| 发布日期 | 2025-12-31 |
| 实施日期 | 2026-07-01 |
| 发布机构 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 |
GB/T 44937.8-2025: 集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 IC带状线法
ICS 31.200
CCSL56
中华人民共和国国家标准
集成电路 电磁发射测量
第8部分:辐射发射测量 IC带状线法
(IEC 61967-8:2023,IDT)
2025-12-31发布
2026-07-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 概述 2
5 试验条件 2
5.1 通则 2
5.2 电源电压 2
5.3 频率范围 2
6 试验设备 2
6.1 通则 2
6.2 射频测量仪器 3
6.3 前置放大器 3
6.4 IC带状线 3
6.5 50Ω终端 3
7 试验布置 3
7.1 通则 3
7.2 试验配置 3
7.3 EMC试验板(PCB) 4
8 试验程序 4
8.1 通则 4
8.2 环境条件 4
8.3 运行检查 4
8.4 IC带状线射频特性的验证 4
8.5 试验技术 5
9 试验报告 5
9.1 通则 5
9.2 测量条件 5
10 IC发射参考电平 5
附录A(规范性) IC带状线的描述 6
A.1 通则 6
A.2 带状线结构的特性阻抗 7
A.3 不同有效导体高度的转换 7
A.4 IC带状线的结构示例 8
附录B(资料性) 发射电平规范 9
B.1 范围 9
B.2 概述 9
B.3 发射电平规范 9
B.4 结果表述方式 9
参考文献 11
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
本文件是GB/T 44937《集成电路 电磁发射测量》的第8部分。GB/T 44937已经发布了以下
部分:
---第1部分:通用条件和定义;
---第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法;
---第3部分:辐射发射测量 表面扫描法;
---第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法;
---第5部分:传导发射测量 工作台法拉第笼法;
---第6部分:传导发射测量 磁场探头法;
---第8部分:辐射发射测量 IC带状线法。
本文件等同采用IEC 61967-8:2023《集成电路 电磁发射测量 第8部分:辐射发射测量 IC带
状线法》。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本文件由全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC599)归口。
本文件起草单位:中国电子技术标准化研究院、天津先进技术研究院、北京智芯微电子科技有限公
司、海研芯(青岛)微电子有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、工业
和信息化部电子第五研究所、中国汽车工程研究院股份有限公司、浙江诺益科技有限公司、深圳市中兴
微电子技术有限公司、中山大学、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、上海机动车检测认证技
术研究中心有限公司、北京无线电计量测试研究所、天津大学、中国信息通信研究院、长沙芯连心智慧系
统有限责任公司、河南省电子信息产品质量检验技术研究院、广州广电计量检测(上海)有限公司、思科
系统(中国)研发有限公司、福州物联网开放实验室有限公司、北京中电华大电子设计有限责任公司、
中家院(北京)检测认证有限公司、中国合格评定国家认可中心、亚锐檀桐检测技术(上海)有限公司、
国网电力科学研究院有限公司。
本文件主要起草人:付君、崔强、靳冬、吴建飞、乔磊、王新才、方文啸、朱赛、徐蛟、叶畅、梁吉明、
李楠、褚瑞、黄雪梅、郑益民、陈梅双、龙发明、吴倩、王晓迪、刘星汛、臧琦、王紫任、李彦鹏、冯星辉、江峰、
楼建全、赖秋辉、连恒兴、焦璨、刘佳、邓勇、鞠文静。
引 言
为规范集成电路电磁发射测量,以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁发射测量方
法,GB/T 44937《集成电路 电磁发射测量》规定了集成电路电磁发射测量的通用条件、定义和不同测
量方法的试验程序和试验要求,拟由9个部分构成。
---第1部分:通用条件和定义。目的在于规定集成电路电磁发射测量的通用条件和定义。
---第1-1部分:通用条件和定义 近场扫描数据交换格式。目的在于规定近场扫描数据交换
格式。
---第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法。目的在于规定TEM 小室和宽带
TEM小室法的试验程序和试验要求。
---第3部分:辐射发射测量 表面扫描法。目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求。
---第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法。目的在于规定1Ω/150Ω直接耦合法的
试验程序和试验要求。
---第4-1部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法应用指南。目的在于给出1Ω/150Ω直
接耦合法应用指导。
---第5部分:传导发射测量 工作台法拉第笼法。目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序
和试验要求。
---第6部分:传导发射测量 磁场探头法。目的在于规定磁场探头法的试验程序和试验要求。
---第8部分:辐射发射测量 IC带状线法。目的在于规定IC带状线法的试验程序和试验要求。
集成电路 电磁发射测量
第8部分:辐射发射测量 IC带状线法
1 范围
本文件描述了使用带状线测量集成电路(IC)电磁辐射发射的方法。被评估IC安装在IC带状线结
构的有效导体和地平面之间的EMC试验板(PCB)上。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
Vocabulary(IEV)-Part131:Circuittheory]
注:GB/T 2900.74-2008 电工术语 电路理论(IEC 60050-131:2002,MOD)
注:GB/T 4365-2024 电工术语 电磁兼容(IEC 60050-161:2021,MOD)
IEC 61967-1 集成电路 电磁发射测量 第1部分:通用条件和定义(Integratedcircuits-Meas-
注:GB/T 44937.1-2025 集成电路 电磁发射测量 第1部分:通用条件和定义(IEC 61967-1:2018,IDT)
IEC 61000-4-20 电磁兼容 第4-20部分:试验和测量技术 横电磁波(TEM)波导中的发射和抗
注:GB/T 17626.20-2014 电磁兼容 试验和测量技术 横电磁波(TEM)波导中的发射和抗扰度试验(IEC
61000-4-20:2010,IDT)
3 术语和定义
IEC 61967-1、IEC 60050-131和IEC 60050-161界定的以......