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收录标准: 222550 (2026-05-23) 搜索

GB/T 47239.9-2026 相关标准英文版PDF

标准号码价格美元第2步(购买)交付天数标准名称
GB/T 47239.9-2026 379 GB/T 47239.9-2026 [PDF]天数 <=4 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分:一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元性能测试方法
   
基本信息
标准编号 GB/T 47239.9-2026 (GB/T47239.9-2026)
中文名称 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分:一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元性能测试方法
英文名称 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 L55
国际标准分类 31.080.99
字数估计 18,178
发布日期 2026-02-27
实施日期 2026-09-01
发布机构 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

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