GB/T 5594.3-2015 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/T 5594.3-2015 | 109 | GB/T 5594.3-2015 | [PDF]天数 <=2 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法 |
| GB/T 5594.3-1985 | 199 | GB/T 5594.3-1985 | [PDF]天数 <=2 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 5594.3-2015 (GB/T5594.3-2015) |
| 中文名称 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法 |
| 英文名称 | Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device -- Part 3: Test method for mean coefficient of linear expansion |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L90 |
| 国际标准分类 | 31-030 |
| 字数估计 | 5,528 |
| 发布日期 | 2015-05-15 |
| 实施日期 | 2016-01-01 |
| 旧标准 (被替代) | GB/T 5594.3-1985 |
| 引用标准 | GB/T 5593-2015; GB/T 9530-1988 |
| 标准依据 | 国家标准公告2015年第15号 |
| 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 范围 | GB/T 5594的本部分规定了陶瓷材料平均线膨胀系效测试的样品、测试设备、测试方法及报告格式。本部分适用于电子元器件结构陶瓷材料的平均线膨胀系效的测试。 |
GB/T 5594.3-2015
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device.Part 3:Test method for mean coefficient of linear expansion
ICS 31-030
L90
中华人民共和国国家标准
代替GB/T 5594.3-1985
电子元器件结构陶瓷材料
性能测试方法
第3部分:平均线膨胀系数测试方法
2015-05-15发布
2016-01-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
前言
GB/T 5594《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法》的结构如下:
---气密性测试方法(GB/T 5594.1);
---杨氏弹性模量 泊松比测试方法(GB/T 5594.2);
---第3部分:平均线膨胀系数测试方法(GB/T 5594.3);
---第4部分:介电常数和介质损耗角正切值测试方法(GB/T 5594.4);
---体积电阻率测试方法(GB/T 5594.5);
---第6部分:化学稳定性测试方法(GB/T 5594.6);
---第7部分:透液性测定方法(GB/T 5594.7);
---第8部分:显微结构测定方法(GB/T 5594.8);
---电击穿强度测试方法(GB/T 5594.9)。
本部分为GB/T 5594的第3部分。
本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T 5594.3-1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试
方法》。
本部分与GB/T 5594.3-1985相比,主要有下列变化:
---标准名称改为:“电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方
法”;
---4.1测试样品改为ϕ3.5×50mm;
---4.2套管和传递杆的材料从石英玻璃变化为石英玻璃或高温氧化铝陶瓷;
---4.4测量范围从室温至800℃变化为室温至1200℃;
---4.5线膨胀系数单位改为K-1。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利,本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由中国电子技术标准化研究院归口。
本部分起草单位:中国电子科技集团公司第十二研究所、河南济源兄弟材料有限公司、浙江温岭特
种陶瓷厂。
本部分主要起草人:高陇桥、黄国立、胡菊飞。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
---GB/T 5594.3-1985。
电子元器件结构陶瓷材料
性能测试方法
第3部分:平均线膨胀系数测试方法
1 范围
GB/T 5594的本部分规定了陶瓷材料平均线膨胀系数测试的样品、测试设备、测试方法及报告
格式。
本部分适用于电子元器件结构陶瓷材料的平均线膨胀系数的测试。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料
GB/T 9530-1988 电子陶瓷名词术语
3 术语和定义
GB/T 9530-1988界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
在一定温度范围内,温度变化1K试样线性尺寸的相对变化值。常用式(1)表示:
α=
lt-l0
l0(t-t0)
(1)
式中:
α---线膨胀系数;
l0---最初温度t0 时试样的长度,单位为毫米(mm);
lt---加热温度至t时试样的长度,单位为毫米(mm)。
4 测试方法
4.1 样品应符合GB/T 5593-2015中表2的要求并用精确度为0.02mm的卡尺测量试样长度L0。
4.2 试样装入石英玻璃或高温Al2O3 陶瓷套管中,应保持平直和稳定,并和石英玻璃或高温Al2O3 陶
瓷传递杆接触良好。用10倍放大镜观察,不应有可见裂纹和气孔。
4.3 接通电源,加热并均匀升温。试样升温速度不大于5℃/min。
4.4 记录各点温度和伸长值ΔL,直至测试到所需......