SJH 2214.2-1982 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ 2214.2-1982 | 199 | SJ 2214.2-1982 | [PDF]天数 <=2 | 半导体光敏二极管正向压降的测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 2214.2-1982 (SJ2214.2-1982) |
| 中文名称 | 半导体光敏二极管正向压降的测试方法 |
| 英文名称 | Method of measurement for forward voltage of semiconductor photodiodes |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | L54 |
| 字数估计 | 1,110 |
| 发布日期 | 11/30/1982 |
| 实施日期 | 7/1/1983 |
| 标准依据 | 工业和信息化部公告(2015年第28号); 工科(2010)第77号 |
| 范围 | 本标准适用于光敏二极管正向电压降V(F)的测试。 |
......