SJH 3249.1-1989 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ 3249.1-1989 | 319 | SJ 3249.1-1989 | [PDF]天数 <=3 | 半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 3249.1-1989 (SJ3249.1-1989) |
| 中文名称 | 半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法 |
| 英文名称 | Methods of measurement for resistivity of semi-insulation Gallium arsenide and Indium phosphide single crystal material |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | H83;L90 |
| 字数估计 | 8,896 |
| 发布日期 | 3/20/1989 |
| 实施日期 | 3/25/1989 |
| 标准依据 | 工科(2010)第77号 |
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