YD/T 3037.2-2023 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| YD/T 3037.2-2023 | RFQ | 询价 | [PDF]天数 <=3 | 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分：UICC |
| YD/T 3037.2-2016 | RFQ | 询价 | [PDF]天数 <=8 | 通用集成电路卡(UICC)与终端间USB接口特性测试方法 第2部分:UICC |
| YD/T 3037.2-2015 | RFQ | 询价 | [PDF]天数 <=3 | 通用集成电路卡(UICC) 与终端间USB接口特性测试方法 第2部分:UICC |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | YD/T 3037.2-2023 (YD/T3037.2-2023) |
| 中文名称 | 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分：UICC |
| 英文名称 | (Test method for characteristics of mass storage interface between Universal Integrated Circuit Card (UICC) and terminals - Part 2: UICC) |
| 行业 | 邮电行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | M36 |
| 国际标准分类 | 33.060.20 |
| 发布日期 | 2023-12-20 |
| 实施日期 | 2024-04-01 |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本文件规定了通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性的UICC部分测试方法，主要包括：物理特性、电气特性、初始通信协议的建立、功能测试和性能测试。本文件适用于支持大容量存储接口的UICC卡的研发和生产。 |
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