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YS/T 35-2012 相关标准英文版PDF

标准号码价格美元第2步(购买)交付天数标准名称
YS/T 35-2012 259 YS/T 35-2012 [PDF]天数 <=3 高纯锑化学分析方法 镁、锌、镍、铜、银、镉、铁、硫、砷、金、锰、铅、铋、硅、硒含量的测定 高质量分辨率辉光放电质谱法
YS/T 35.1-1992 239 YS/T 35.1-1992 [PDF]天数 <=2 高纯锑化学分析方法.Ag-DDC分光光度法测定砷量
   
基本信息
标准编号 YS/T 35-2012 (YS/T35-2012)
中文名称 高纯锑化学分析方法 镁、锌、镍、铜、银、镉、铁、硫、砷、金、锰、铅、铋、硅、硒含量的测定 高质量分辨率辉光放电质谱法
英文名称 Method for chemical analysis of high purity antimony. Determination of magnesium, zinc, nickel, copper, silver, cadium, iron, sulfur, arsenic, gold, manganese, lead, bismuth, silicon, selenium. High-mass resolution glow discharge mass spectrometry
行业 有色冶金行业标准 (推荐)
中标分类 H13
国际标准分类 77.040.30
字数估计 10,156
旧标准 (被替代) YS/T 35.1-1992; YS/T 35.2-1992; YS/T 35.3-1992; YS/T 35.4-1992
引用标准 ASTM E135
标准依据 工业和信息化部公告2012年第70号;行业标准备案公告2013年第3号(总第159号)
发布机构 工业和信息化部
范围 本标准规定了纯度w(Sb)≥99.999%高纯锑中镁、锌、镍、铜、银、镉、铁、硫、砷、金、锰、铅、铋、硅、硒含量的测定方法。本标准适用于纯度w(Sb)≥99.999%高纯锑中镁、锌、镍、铜、银、镉、铁、硫、砷、金、锰、铅、铋、硅、硒含量的测定。各元素测定范围为1.0×10(-7)%~1.5×10(-4)%(w%)。

YS/T 35-2012 ICS 77.040.30 H13 中华人民共和国有色金属行业标准 代替YS/T 35.1~35.4-1992 高纯锑化学分析方法 镁、锌、镍、铜、银、镉、铁、硫、砷、金、 锰、铅、铋、硅、硒含量的测定 高质量分辨率辉光放电质谱法 2012-12-28发布 2013-06-01实施 中华人民共和国工业和信息化部 发 布 前言 本标准是按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草的。 本标准代替YS/T 35.1~35.4-1992《高纯锑化学分析方法》。 本标准与YS/T 35.1~35.4-1992相比主要变化如下: ---对原标准进行了整合修订,合四为一,采用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定高纯锑的化学 成分。 本标准由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口。 本标准主要起草单位:峨嵋半导体材料厂。 本标准参与起草单位:北京有色金属研究总院、兰州金川新材料科技股份有限公司。 本标准主要起草人:程高明、李继东、孙平、秦芳林、杨卫东、丁国江、廖敏、丁翠、邱平。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为: ---YS/T 35.1~35.4-1992。 高纯锑化学分析方法 镁、锌、镍、铜、银、镉、铁、硫、砷、金、 锰、铅、铋、硅、硒含量的测定 高质量分辨率辉光放电质谱法 1 范围 本方法规定了纯度w(Sb)≥99.999%高纯锑中镁、锌、镍、铜、银、镉、铁、硫、砷、金、锰、铅、铋、硅、 硒含量的测定方法。 本方法适用于纯度w(Sb)≥99.999%高纯锑中镁、锌、镍、铜、银、镉、铁、硫、砷、金、锰、铅、铋、硅、 硒含量的测定。各元素测定范围为1.0×10-7%~1.5×10-4%(w%)。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 ASTME135 金属、矿石及相关材料中涉及分析化学的相关术语 3 术语和定义 ASTME135界定的以及下列术语适用于本文件。 3.1 高质量分辨率 high-massresolution 大于3500的质量分辨率。 4 方法提要 4.1 方法原理 将一个试样安装到等离子体放电室,并对样品进行溅射。从试样表面飞溅出来的原子被离子化,聚 焦为离子束通过双聚焦扇形磁场质量分析仪。此时,质谱(离子流)按磁场或加速电压(或二者)进行扫 描收集。 4.2 结果分析 4.2.1 质量Mi的同位素的离子流是测量的总离子流减去来自所有其他干扰源的贡献部分。一部分 所测量离子流可能仅源自离子检测器(检测器噪声)。另一部分可能源自与所测杂质元素质量分辨不完 全且质量接近但不等于Mi的干扰元素或分子的离子信号。在所有这些情况下,必须对干扰贡献部分......

英文网页English: YS/T 35-2012

相关标准: GB/T 3884.2|YS/T 36.2|YS/T 36.3|YS/T 36.1|