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| 标准编号 | CJ/T 243-2016 (CJ/T243-2016) | | 中文名称 | 建设事业集成电路(IC)卡产品检测 | | 英文名称 | Testing of IC card for construction cause | | 行业 | 城建行业标准 (推荐) | | 中标分类 | P07 | | 国际标准分类 | 35.240.60 | | 字数估计 | 30,338 | | 发布日期 | 2016-06-14 | | 实施日期 | 2016-12-01 | | 旧标准 (被替代) | CJ/T 243-2007 | | 引用标准 | GB/T 2423.1-2008; GB/T 2423.2-2008; GB/T 2423.3-2006; GB/T 2423.5-1995; GB/T 2423.6-1995; GB/T 2423.10-2008; GB/T 4798.5-2007; GB/T 4857.2-2005; GB/T 4857.5-1992; GB 4943.1-2011; GB 9254-2008; GB/T 14916-2006; GB/T 16649.1-2006; GB/T 16649.2-2006; GB/T 16 | | 标准依据 | Ministry of Housing and Urban-Rural Development Bulletin 2016 No. 1162 | | 发布机构 | 中华人民共和国住房和城乡建设部 | | 范围 | 本标准规定了建设事业IC卡检测、IC卡终端检测、城市一卡通安全域符合性测试和参考实现测试。本标准适用于建设事业IC卡卡片和终端设计、制造、管理、发行以及应用系统研制、开发、集成、应用和维护等过程中的IC卡检测。 |
CJ/T 243-2016
Testing of IC card for construction cause
中华人民共和国城镇建设行业标准
代替CJ/T 243-2007
建设事业集成电路(IC)卡产品检测
2016-06-14发布
2016-12-01实施
中华人民共和国住房和城乡建设部 发 布
目次
前言 Ⅰ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 2
4 缩略语和符号 2
5 IC卡检测 2
6 IC卡终端检测 13
7 城市一卡通安全域符合性测试 18
前言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本标准代替CJ/T 243-2007《建设事业集成电路(IC)卡产品检测》,与CJ/T 243-2007相比较,主
要技术变化如下:
---删除逻辑加密卡表具类终端应用检测(2007年版中7.5);
---删除逻辑加密卡检测的相关内容(2007年版中7.1、7.2、7.3、7.4);
---增加关于互联互通卡的相关检测要求(见5.2.19~22、5.3.13~18);
---增加城市一卡通应用中涉及移动支付的相关检测要求(见第7章、第8章)。
本标准由住房和城乡建设部标准定额研究所提出。
本标准由住房和城乡建设部信息技术应用标准化技术委员会归口。
负责起草单位:住房和城乡建设部IC卡应用服务中心、中外建设信息有限责任公司。
参加起草单位:捷德(中国)信息科技有限公司、深圳市华旭科技开发有限公司、上海华虹计通智能
系统股份有限公司、北京江南歌盟科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、北京尊冠科技有限公司、
信息产业信息安全测评中心、东信和平科技股份有限公司、上海华虹集成电路有限责任公司、恩智浦(中
国)管理有限公司、英飞凌集成电路(北京)有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、武汉天喻信息
产业股份有限公司、中钞信用卡产业发展有限公司、北京亿速码数据处理有限责任公司、上海雅斯拓智
能卡技术有限公司、上海柯斯软件股份有限公司、中山达华智能科技股份有限公司、深圳市德卡科技有
限公司、珠海亿达科技电子工业有限公司、福州兆科智能卡有限公司。
本标准主要起草人:王辉、张永刚、刘文莉、姜华、张昕、尚治宇、樊静静、董晶晶、张汉就、丁晓明、
陈勇、丁轶、张群、刘颖、余海泉、黄显明、王宝鸫、李晓俊、李岳、常小争、王启勇、季泽、王晓雨、张大军、
陈为明。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
---CJ/T 243-2007。
建设事业集成电路(IC)卡产品检测
1 范围
本标准规定了建设事业IC卡检测、IC卡终端检测、城市一卡通安全域符合性测试和参考实现
测试。
本标准适用于建设事业IC卡卡片和终端设计、制造、管理、发行以及应用系统研制、开发、集成、应
用和维护等过程中的IC卡检测。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验
GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击
GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞
GB/T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)
GB/T 4798.5-2007 电工电子产品应用环境条件 第5部分:地面车辆使用
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GB/T 16649.3-2006 识别卡 带触点的集成电路卡 第3部分:电信号和传输协议
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GB/T 17554.3-2006 识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备
GB/T 17618-2015 信息技术设备 抗扰度 限值和测量方法
GB/T 18239-2000 集成电路......
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