搜索结果: GB/T 12274.1-2012, GB/T12274.1-2012, GBT 12274.1-2012, GBT12274.1-2012
| 标准编号 | GB/T 12274.1-2012 (GB/T12274.1-2012) | | 中文名称 | 有质量评定的石英晶体振荡器 第1部分：总规范 | | 英文名称 | Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality -- Part 1: Generic specification | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L21 | | 国际标准分类 | 31.140 | | 字数估计 | 67,682 | | 旧标准 (被替代) | GB/T 12274-1990 | | 引用标准 | GB/T 2421.1-2008; GB/T 2423.1-2008; GB/T 2423.2-2008; GB/T 2423.3-2006; GB/T 2423.4-2008; GB/T 2423.5-1995; GB/T 2423.6-1955; GB/T 2423.8-1995; GB/T 2432.10-2008; GB/T 2423.15-2008; GB/T 2423.16-2008; GB/T 2423.18-2000; GB/T 2423.21-2008; GB/T 2423.22-200 | | 采用标准 | IEC 60679-1-2007, MOD | | 标准依据 | 国家标准公告2012年第28号 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | GB/T 12274的本部分规定了采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的石英晶体振荡器的试验方法和通用性要求。本部分适用于采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的石英晶体振荡器。 | GB/T 12274.1-2012
Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality.Part 1: Generic specification
ICS 31.140
L21
中华人民共和国国家标准
代替GB 12274-1990
有质量评定的石英晶体振荡器
第1部分:总规范
(IEC 60679-1:2007,MOD)
2012-11-05发布
2013-02-15实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅰ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语、定义和一般信息 3
4 质量评定程序 12
5 试验和测量程序 15
附录A(规范性附录) 逻辑电平驱动的负载电路 57
附录B(规范性附录) 闩锁试验 60
附录C(资料性附录) 静电放电敏感度的分级 61
附录D(资料性附录) 本部分与IEC 60679-1:2007技术性差异及其原因 62
参考文献 63
前言
GB/T 12274《有质量评定的石英晶体振荡器》分为以下几个部分:
---第1部分:总规范;
---第2部分:使用指南;
---第3部分:分规范 能力批准;
---第3-1部分:空白详细规范 能力批准;
---第4部分:分规范 鉴定批准;
---第4-1部分:空白详细规范 鉴定批准。
本部分为GB/T 12274的第1部分。
本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本部分代替GB 12274-1990《有质量评定的石英晶体振荡器 第1部分:总规范》,与GB 12274-
1990相比,主要变化如下:
---增加了34条术语和定义;
---根据电子元器件质量认证的通用规定,全面规定了质量评定程序的细则;
---增加了25条电性能测量方法、9个机械和环境试验项目、耐久性试验方法;
---增加了附录A、附录B、附录C和附录D。
本部分使用重新起草法修改采用IEC 60679-1:2007《石英晶体振荡器 第1部分:总规范》。
本部分与IEC 60679-1:2007相比存在技术性差异,这些差异涉及的条款已通过在其外侧页边空白
位置的垂直单线(|)进行了标示。附录D中给出了相应技术性差异及其原因的一览表。
本部分还作了下列编辑性修改:
---规范性引用文件和3.2.39中删除了 ANSIT1.105.03、ANSIT1.101、TelcordiaGR-253和
ETSIEN300462。
---将第2章的“优先顺序”调至第3章。
---图2中直线线条的位置有偏移,将其修正到正确位置。
---图8右上方补画f3~f4 段的抖动允差线。
---5.5.22.4“调幅频率响应”中总失真的计算公式改为放在5.5.22.3“调幅失真”中。
---用公制线径代替英制线规。
---本部分用环境试验国家标准GB/T 2423代替对应的IEC 60068,它们在本部分的引用中无技
术性差异。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口。
本部分起草单位:中国电子元件行业协会压电晶体分会、中国电子技术标准化研究所。
本部分主要起草人:章怡、姜连生、李晓英。
本部分所代替规范的历次版本发布情况为:
---GB 12274-1990。
有质量评定的石英晶体振荡器
第1部分:总规范
1 范围
GB/T 12274的本部分规定了采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的石英晶体振荡器的试
验方法和通用性要求。
本部分适用于采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的石英晶体振荡器。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 2421.1-2008 电工电子产品环境试验 概述和指南(IEC 60068-1:1988,IDT)
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温(IEC 60068-2-
1:2007,IDT)
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温(IEC 60068-2-
2:2007,IDT)
GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 Cab:恒定湿热试验
(IEC 60068-2-78:2001,IDT)
GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验规程 第2部分:试验方法 试验Db 交变湿热
(12h+12h循环)(IEC 60068-2-30:2005,IDT)
GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击(idt
IEC 60068-2-27:1987)
GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞(idt
IEC 60068-2-29:1987)
GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 试验Ed:自由跌落(idt
IEC 60068-2-32:1990)
GB/T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)
(IEC 60068-2-6:1995,IDT)
GB/T 2423.15-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ga和导则:稳态加速
度(IEC 60068-2-7:1986,IDT)
GB/T 2423.16-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验J及导则:长霉
(IEC 60068-2-10:2005,IDT)
GB/T 2423.18-2000 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Kb:盐......
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