GB/T 19403.1-2003 相关标准英文版PDF

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标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	详情	状态
GB/T 19403.1-2003	英文版	504	GB/T 19403.1-2003	[PDF]天数 <=4	半导体器件集成电路第11部分:第1篇:半导体集成电路内部目检(不包括混合电路)	GB/T 19403.1-2003	有效

基本信息
标准编号	GB/T 19403.1-2003 (GB/T19403.1-2003)
中文名称	半导体器件集成电路第11部分:第1篇:半导体集成电路内部目检(不包括混合电路)
英文名称	Semiconductor devices -- Integrated Circuits -- Part 11: Section 1: Internal visual examination for semiconductor integrated circuit (excluding hybrid circuits)
行业	国家标准 (推荐)
中标分类	L56
国际标准分类	31.200
字数估计	22,282
发布日期	2003-11-24
实施日期	2004-08-01
采用标准	IEC 60748-11-1-1992, IDT
标准依据	China Announcement of Newly Approved National Standards No. 1, 2004 (No. 63 overall)
发布机构	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

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