搜索结果: GB/T 23901.2-2019, GB/T23901.2-2019, GBT 23901.2-2019, GBT23901.2-2019
| 标准编号 | GB/T 23901.2-2019 (GB/T23901.2-2019) | | 中文名称 | 无损检测 射线照相检测图像质量 第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定 | | 英文名称 | Non-destructive testing -- Image quality of radiographs -- Part 2: Determination of the image quality value using step/hole-type image quality indicators | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | J04 | | 国际标准分类 | 19.100 | | 字数估计 | 8,881 | | 发布日期 | 2019-06-04 | | 实施日期 | 2020-01-01 | | 起草单位 | 上海空间推进研究所、上海航天动力科技工程有限公司、上海材料研究所、浙江省缙云像质计厂、湖北三江航天江北机械工程有限公司、矩阵科工检测技术(北京)有限公司、上海航天精密机械研究所、上海卫星装备研究所、上海航天设备制造总厂有限公司、四川航天川南火工技术有限公司、中广核工程有限公司、上海飞天众知科技有限公司、浙江省特种设备检验研究院、航天材料及工艺研究所、中信戴卡股份有限公司、中国科学院声学研究所东海研究站、宁波市特种设备检验研究院、上海航天控制技术研究所、艾因蒂克检测科技(上海)股份有限公司 | | 归口单位 | 全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56) | | 提出机构 | 全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56) | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | GB/T 23901.2-2019
(Non-destructive testing - Radiographic image quality - Part 2: Determination of image quality values of stepped hole image quality)
ICS 19.100
J04
中华人民共和国国家标准
代替GB/T 23901.2-2009
无损检测 射线照相检测图像质量
第2部分:阶梯孔型像质计像质值的测定
(ISO 19232-2:2013,IDT)
2019-06-04发布
2020-01-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
中国国家标准化管理委员会 发 布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 阶梯孔型像质计规范 1
5 像质计的使用 4
6 像质值的确定 5
前言
GB/T 23901《无损检测 射线照相检测图像质量》分为5个部分:
---第1部分:丝型像质计像质值的测定;
---第2部分:阶梯孔型像质计像质值的测定;
---第3部分:像质分类;
---第4部分:像质值和像质表的实验评价;
---第5部分:双丝型像质计图像不清晰度的测定。
本部分为GB/T 23901的第2部分。
本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T 23901.2-2009《无损检测 射线照相底片像质 第2部分:阶梯孔型像质计
像质指数的测定》,与GB/T 23901.2-2009相比,主要变化如下:
---修改了规范性引用文件(见第2章,2009年版的第2章);
---修改了术语和定义(见第3章,2009年版的第3章);
---“射线照相底片像质”改为“射线照相检测图像质量”;
---“像质指数”改为“像质值”;
---“胶片”改为“探测器”。
本部分使用翻译法等同采用ISO 19232-2:2013《无损检测 射线照相检测图像质量 第2部分:阶
梯孔型像质计像质值的测定》。
与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:
---GB/T 19802-2005 无损检测 工业射线照相观片灯 最低要求(ISO 5580:1985,IDT)
---GB/T 23901.4-2019 无损检测 射线照相检测图像质量 第4部分:像质值和像质表的实
验评价(ISO 19232-4:2013,IDT)
---GB/T 27050.1-2006 合格评定 供方的符合性声明 第1部分:通用要求(ISO/IEC 17050-1:
2004,IDT)
本部分由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口。
本部分负责起草单位:上海空间推进研究所、上海航天动力科技工程有限公司、上海材料研究所、浙
江省缙云像质计厂、湖北三江航天江北机械工程有限公司、矩阵科工检测技术(北京)有限公司、上海航
天精密机械研究所、上海卫星装备研究所、上海航天设备制造总厂有限公司、四川航天川南火工技术有
限公司、中广核工程有限公司、上海飞天众知科技有限公司、浙江省特种设备检验研究院、航天材料及工
艺研究所、中信戴卡股份有限公司、中国科学院声学研究所东海研究站、宁波市特种设备检验研究院、上
海航天控制技术研究所、艾因蒂克检测科技(上海)股份有限公司。
本部分主要起草人:陈亦维、徐国珍、蒋建生、丁杰、柳章龙、王晓勇、江运喜、周建平、危荃、孙建罡、
徐薇、张政、朱从斌、王道龙、黄文大、吕延达、袁生平、刘军、胡玲、陈虎、袁支佐、张瑞、张义凤、翟莲娜、
马君。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
---GB/T 23901.2-2009。
无损检测 射线照相检测图像质量
第2部分:阶梯孔型像质计像质值的测定
1 范围
GB/T 23901的本部分规定了使用阶梯孔型像质计确定射线照相检测图像质量的器材和方法。
本部分适用于使用阶梯孔型像质计测定射线照相检测像质值。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
ISO 5580 无损检测 工业射线照相观片灯 最低要求(Non-destructivetesting-Industrialradi-
ISO 19232-4 无损检测 射线照相检测图像质量 第4部分:像质值和像质表的实验评价(Non-
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
图像质量 imagequality
像质
反映所显示细节的程度的射线照相检测图像特征。
3.2
能够测量所获得的像质,由一系列不同等级尺寸的丝或带孔的阶梯组成的器件。
注:像质计也可用图像质量指示器、IQI表述。像质计类型通常为丝型或阶梯孔型。
3.3
像质值 imagequalityvalue
表示为要求或达到像质计在射线照相检测图像上可识别的最细丝或最小孔的测定值。
注:像质值也可用图像质量值、IQI灵敏度(IQIsensitivity)表述。阶梯孔型像质计的编号见表1。
4 阶梯孔型像质计规范
4.1 像质计组成、制造、名称
4.1.1 像质计组成
像质计系列由18块不同厚度及直径的阶梯和孔组成,具有相应的公差和对应的孔编号,见表1。
这些阶梯和孔又被分成范围重叠的四组,每组由6种连续编号的孔组成,即 H1~H6、H5~H10、H9~
H14和H13~H18。
单位为毫米
说明:
h---对于像质计 H1、H5和 H9,h=10mm;对于像质计 H13,h=15mm;
l ---对于像质计 H1,l=5mm;对于像质计 H5和 H9,l=7mm;对于像质计 H13,l=15mm。
a 像质计标记区域。
图1 阶梯孔型像质计
4.1.2 像质计制造
厚度小于0.8mm的阶梯应含有两个相同直径的孔。厚度大于或等于0.8mm的阶梯应含有一个
孔,孔中心距阶梯的边缘,或者距阶梯上第二个孔的边缘,其最小距离应为孔径加1mm。孔应垂直于
表面,不应有倾斜边缘。
4.1.3 像质计名称
像质计名称应包括像质计标识、标准编号、表1规定的最小孔径号(例如:H5)以及代表像质计材料
的标记(例如:FE)。
示例:IQIGB/T 23901.2-H5FE。
带有“ISO 19232-2”或“EN462-2”的像质计与带有“GB/T 23901.2”的像质计等同使用。
表1 孔编号、孔径、阶梯厚度及像质计公差 单位为毫米
像质计范围 孔和阶梯
H1 H5 H9 H13 孔编号 标称孔径和阶梯厚度 极限偏差
× H1 0.125
× H2 0.160
× H3 0.200
× H4 0.250
+0.015
表1(续) 单位为毫米
像质计范围 孔和阶梯
H1 H5 H9 H13 孔编号 标称孔径和阶梯厚度 极限偏差
× × H5 0.320
× × H6 0.400
× H7 0.500
+0.015
× H8 0.630
× × H9 0.800
× × H10 1.000
+0.020
× H11 1.250
× H12 1.600
× a H13 2.000
× a H14 2.500
+0.025
a H15 3.200
a H16 4.000
a H17 5.000
+0.030
a H18 6.300 +0.036 0
a 当合同双方达成一致时,这些编号可作为特别应用。
4.2 像质计材料
同组像质计材料应相同,并嵌入到具有保护作用且又不影响像质值测定的材料中。
常用的像质计材料有FE-钢质、SS-不锈钢制、AL-铝质,TI-钛质等。表2列出了用于被选材料组别
的像质计种类和材料。
表2 用于被选材料组别的像质计种类和材料
像质计标记 孔编号 像质计材料 适用被检材料
H1CU H1~H6
H5CU H5~H10
H9CU H9~H14
H13CU H13~H18
铜 铜、锌、锡及其合金
H1FE H1~H6
H5FE H5~H10
H9FE H9~H14
H13FE H13~H18
铁(低合金) 铁素体材料
表2(续)
像质计标记 孔编号 像质计材料 适用被检材料
H1TI H1~H6
H5TI H5~H10
H9TI H9~H14
H13TI H13~H18
钛 钛及其合金
H1AL H1~H6
H5AL H5~H10
H9AL H9~H14
H13AL H13~H18
铝 铝及其合金
4.3 像质计标记
像质计标记区域(见图1)应包含以下信息:
a) 放在最小孔附近的孔编号;
b) 代表所用像质计材料的标记,例如:FE指钢;
c) GB 标记。
示例:H5FEGB 。
带有“ISO ”或“EN”的像质计与带有“GB ”的像质计等同使用。
标记材料不应在射线照相检测图像产生可能影响图像评定的眩光,其衰减不宜超过最大厚度阶梯
的两倍。
4.4 质量保证
每个像质计都应附有一份符合ISO/IEC 17050-1或由具有资格的实验室颁发的并符合本部分技术
条件的合格证明。为便于识别,制造商还应对像质计进行编号和标记。
5 像质计的使用
5.1 选用
应根据被检材料和厚度及需要达到的像质值选用像质计。
当缺少同材质像质计时,可采用原子序数低的材质定制像质计......
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