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GB/T 2423.5-2019 相关标准英文版PDF, 自动发货

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GB/T 2423.5-2019 英文版 380 GB/T 2423.5-2019 3分钟内自动发货[PDF] 环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击 GB/T 2423.5-2019 有效
GB/T 2423.5-1995 英文版 145 GB/T 2423.5-1995 3分钟内自动发货[PDF] 电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Ea和导则 冲击 GB/T 2423.5-1995 作废
GB 2423.5-1981 英文版 239 GB 2423.5-1981 [PDF]天数 <=2 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ea:冲击试验方法 GB 2423.5-1981 作废
   
基本信息
标准编号 GB/T 2423.5-2019 (GB/T2423.5-2019)
中文名称 环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击
英文名称 Environmental testing - Part 2: Test methods - Test Ea and guidance: Shock
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 K04
国际标准分类 19.040
字数估计 26,289
发布日期 2019-05-10
实施日期 2019-12-01
起草单位 工业和信息化部电子第五研究所、广州智能装备研究院有限公司、上海市质量监督检验技术研究院、芜湖赛宝信息产业技术研究院有限公司
归口单位 全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC 8)
提出机构 全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC 8)
发布机构 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

GB/T 2423.5-2019 Environmental testing--Part 2: Test methods--Test Ea and guidance: Shock ICS 19.040 K04 中华人民共和国国家标准 代替GB/T 2423.5-1995,GB/T 2423.6-1995 环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击 2019-05-10发布 2019-12-01实施 国 家 市 场 监 督 管 理 总 局 中国国家标准化管理委员会 发 布 目次 前言 Ⅰ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 2 4 试验设备描述 2 4.1 特性要求 2 4.2 测量系统 5 4.3 安装 6 5 严酷度 6 6 预处理 7 7 初始检查和功能检测 7 8 试验 7 9 恢复 8 10 最终检测 8 11 有关规范应给出的信息 8 12 试验报告应给出的信息 8 附录A(规范性附录) 波形的选择和应用导则 10 附录B(资料性附录) 冲击响应谱和脉冲波形的其他特性 16 附录C(资料性附录) 冲击试验的比较 21 参考文献 22 前言 GB/T 2423《环境试验 第2部分》按试验方法分为若干部分。 本部分为GB/T 2423的第5部分。 本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。 本部分代替GB/T 2423.5-1995《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲 击》和GB/T 2423.6-1995《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞》。本部 分整合了GB/T 2423.5-1995和GB/T 2423.6-1995的内容。与GB/T 2423.5-1995、GB/T 2423.6- 1995相比,主要技术变化如下: ---在4.2测量系统中增加了采用低通滤波器时截止频率的要求; ---在第5章中增加了每个方向冲击次数的要求; ---图4中的表格将原GB/T 2423.5-1995的图4和GB/T 2423.6-1995的图2的表格合并; ---表1的严酷度等级有所增加。 本部分使用翻译法等同采用IEC 60068-2-27:2008《环境试验 第2-27部分:试验 试验Ea和导 则:冲击》。 与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下: ---GB/T 2421.1-2008 环境试验 第1部分:概述和指南(IEC 60068-1:1988,IDT); ---GB/T 2423.39-2018 环境试验 第2部分:试验方法 试验Ee和导则:散装货物试验包含 弹跳(IEC 60068-2-55:2013,IDT); ---GB/T 4798.1-2005 电工电子产品应用环境条件 第1部分 贮存(IEC 60721-3-1:1997, MOD); ---GB/T 4798.5-2007 电工电子产品应用环境条件 第5部分:地面车辆使用(IEC 60721-3- 5:1997,MOD)。 本部分进行了下列编辑性修改: ---修改了标准名称。 本部分由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC8)提出并归口。 本部分起草单位:工业和信息化部电子第五研究所、广州智能装备研究院有限公司、上海市质量监 督检验技术研究院、芜湖赛宝信息产业技术研究院有限公司。 本部分主要起草人:程德斌、卢兆明、解禾、侯卫国。 本部分代替了GB/T 2423.5-1995和GB/T 2423.6-1995。 GB/T 2423.5-1995的历次版本发布情况为: ---GB/T 2423.5-1981。 GB/T 2423.6-1995的历次版本发布情况为: ---GB/T 2423.6-1981; ---GB/T 2424.4-1981。 环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击 1 范围 GB/T 2423的本部分提供了确定样品经受规定严酷度的非重复或重复冲击能力的标准程序。 本试验的目的是用来暴露机械薄弱环节和/或性能下降和冲击引起的累计损伤和退化情况,并且利 用这些资料,结合有关规范,来决定样品是否可以接收。在某些情况下,本冲击试验也可以用来确定样 品的结构完好性,或作为质量控制的手段(见A.2)。 本试验主要针对不带包装样品,以及在运输条件下其包装可看作产品本身一部分的样品。如果不 带包装物品进行试验,将之归于受试样品。然而,如果物品是有包装的,就将产品及其包装视作为一个 受试样品。GB/T 2423.43-2008有关于包装产品接受试验的介绍。 本部分是针对脉冲波形来编写的,附录A给出了选择和使用这些脉冲波形的导则,附录B讨论了 各种不同波形的特性。 如有可能,施加于样品的试验严酷等级和冲击脉冲波形尽可能模拟样品将要经受到的实际运输或 工作环境的效果;而试验的目的是为了评价结构完整性,是否符合设计要求(见A.2和A.4)。 在试验期间,样品总是直接或通过夹具固定到冲击试验机台面上。 注:本部分均使用“冲击试验机”这一术语,并不排除产生脉冲波形的其他方法。 在适用的情况下,技术委员会的职责之一是在编写出版物时使用基本安全出版物。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 2423.43-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 振动、冲击和类似动力学 试验样品的安装(IEC 60068-2-47:2005,IDT) guidance) 55:Tests-TestEeandguidance:Bounce) IEC 60721-3-1 环境分类条件 第 3 部分:环境分类参数及其严酷度 第 1 节:贮存 IEC 60721-3-5 环境分类条件 第3部分:环境分类参数及其严酷度 第5节:地面车辆使用 3 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 注:所用术语大部分在ISO 2041[1]1)或IEC 60068-1中定义。以下附加术语和定义也适用于本部分。 1) 方括号中的数字指的是参考文献。 3.1 检查点 checkpoint 固定点中的某个,而且在任何情况下都要和固定点刚性连接。 注1:试验的要求是通过若干检查点来保证的。 注2:如果存在4个以上的固定点,则有关规范宜规定4个具有代表性的固定点作检查点用。 注3:在特殊情况下,例如对大型或复杂的样品,如果要求检查点不紧靠固定点,则在有关规范中规定。 注4:当大量的小样品安装在一个夹具上时,或当一个小样品具有许多固定点时,可选用单个检查点(即参考点)来 导出控制信号。该信号反映的是夹具的特性而不是样品固定点的。这仅当夹具装上样品等负载后的最低共 振频率比试验频率的上限高很多时才是可行的。 3.2 固定点 fixingpoint 样品与夹具或冲击试验台台面相连接的部分,通常是固定样品的地方。 注:如果将样品的实际安装结构作为夹具,固定点在安装结构上而不在样品上。 3.3 gn 由地球引力产生的标准加速度,随海拔高度和地理纬度而变化。 注:本部分为了便于使用,将gn 值圆整到10m/s2 的整数值。 3.4 重复速率 repetitionrate 每秒的冲击次数。 3.5 冲击严酷度等级 shockseverity 冲击试验的严酷度等级包括峰值加速度、标称脉冲持续时间和冲击次数。 3.6 速度变化量 velocitychange 要施加规定的加速度而产生的速度突然变化的绝对值。 注:如果速度变化发生在比所涉及的激励脉冲的基本周期短的时间内,则通常认为是突然变化。 4 试验设备描述 4.1 特性要求 当冲击试验台用夹具或不用夹具装上样品时,在检查点上所施加的冲击脉冲应为近似于图1、图2 和图3中虚线所示的加速度对时间的曲线之一。 4.1.1 基本脉冲波形 本部分包括半正弦波、后峰锯齿波和梯形波三种类型的波形。波形的选择取决于若干因素,本部分 给出了选用波形的优先顺序(见A.3)。 规定的基本脉冲波形如下(见A.3): ---半正弦波:正弦波的半个周期,如图1所示; ---后峰锯齿波:具有短的下降时间的不对称三角形,如图2所示; ---梯形波:具有短的上升和下降时间的对称梯形,如图3所示。 实际脉冲应在有关图中用实线所表示的容差限内。 注:当不能获得落在规定容差范围内的脉冲波形时,有关规范宜规定另一种可采用的方法(见A.5)。 图1 半正弦波的波形和容差范围 说明(图1~图3适用): :标称脉冲线; :容差范围线; D:标称脉冲的持续时间; A:标称脉冲的峰值加速度; T1:用传统冲击试验台产生冲击时,对脉冲监测的最短时间; T2:用电动振动试验台产生冲击时,对脉冲监测的最短时间。 图2 后峰锯齿波的波形和容差范围 图3 梯形波的波形和容差范围 4.1.2 重复速率 重复速率应保证两次冲击之间样品内部的相对运动基本上为零,且在检查点的加速度值应在图1 所示的容差内(见A.7)。 注:重复速率的评估公式见A.7。 4.1.3 速度变化容差 对所有脉冲波形,实际的速度变化量应在其相应的标称脉冲值的±15%之内。 当速度变化是用实际脉冲的积分来确定时,应从脉冲前的0.4D 积分到脉冲后的0.1D,D 是标称 脉冲的持续时间。 注:如果由于没有精确的积分装置而不能获得速度变化容差时,有关规范宜规定另一种可采用的方法(见 A.5 和A.6)。 4.1.4 横向运动 当采用4.2的方法时,在检查点上垂直于预定冲击方向的正的或负的峰值加速度不应超过预定方 向上标称脉冲峰值加速度的30%。 注:如果达不到横向运动的误差要求时,有关规范宜规定另一种可采用的方法(见A.5)。 4.2 测量系统 测量系统的特性应能保证在检查点的预定方向上测量到实际脉冲在图1、图2和图3要求的容差 范围内。图4的要求适用于控制信号测量系统未用低通滤波器的频率响应。当采用了低通滤波器,滤 波器特性的截止频率fg(-3dB点)不低于: fg= 1.5 式中: fg---低通滤波器的截止频率,单位为千赫(kHz); D ---脉冲持续时间,单位为毫秒(ms)。 对测量准确度能产生重要的影响,包括加速度计在内的整个测量系统的频率响应应在图4的容差 内(见A.5)。 注:冲击的持续时间等于或小于0.5ms,未必需要图4中f3 和f4 如此高的频率,因此,有关规范宜规定供选用的 替代值。 脉冲持续时间 ms 低截止频率 Hz 高截止频率 kHz 响应可能上升+1dB时的频率 kHz f1 f2 f3 f4 0.2,0.3 20 120 20 40 0.5 10 50 15 30 1 4 20 10 20 2,3 2 10 5 10 6 1 4 2 4 11 0.5 2 1 2 16,18,30 0.2 1 1 2 图4 测量系统的频率特性 4.3 安装 样品应按IEC 60068-2-47的规定安装在冲击试验机台面或通过夹具装在台面上。 5 严酷度 有关规范应同时给出脉冲波形和冲击严酷度等级。有关规范应规定,冲击适用于所有3条轴线的 正和负两个方向。当关注试验的姿态时应考虑重力的影响。除非真实使用条件已知或另有规定,应选 用4.1.1中给出的一种波形和表1中对应的严酷度等级。粗体是优选组合。相应的速度变化也在表1 中给出。 每个方向的冲击次数可以从下列数值中选取。 3±0 100±5 500±5 1000±10 5000±10 注:如果此处的严酷度等级不能模拟已知环境对样品的影响,有关规范可以选用图1、图2和图3所示的标准脉冲 波形之一(见A.4)规定其他合适的试验严酷度等级。 表1 冲击试验的严酷度等级 峰值加速度 脉冲持续时间 半正弦 Δν= πAD×10 后峰锯齿 Δν=0.5AD×10-3 梯形 Δν=0.9AD×10-3 m/s2 gn ms m/s m/s m/s 备注 50 5 6 0.2a 0.2 0.3 50 5 30 1 0.8 1.4 60 6 11 0.4 0.3 0.6 b 100 10 16 1 0.8 1.4 100 10 11 0.7 0.6 1 c 100 10 6 0.4 0.3 0.5 150 15 6 0.6 0.5 0.8 c 150 15 11 1.1 0.8 1.5 200 20 11 1.4 1.1 2 b 250 25 6 1 0.8 1.4 c 300 30 6 1.1 0.9 1.6 300 30 18 3.4 2.7 4.9 400 40 6 1.5 1.2 2.2 c 400 40 11 2.8 2.2 4 500 50 3 1 0.8 1.4 500 50 11 3.5 2.8 5 表1(续) 峰值加速度 脉冲持续时间 半正弦 Δν= πAD×10 后峰锯齿 Δν=0.5AD×10-3 梯形 Δν=0.9AD×10-3 m/s2 gn ms m/s m/s m/s 备注 800 80 6 3.1 2.4 4.3 c 1000 100 2 1.3 1 1.8 c 1000 100 6 3.8 3 5.4 1000 100 11 7 5.5 9.9 2000 200 3 3.8 3 5.4 2000 200 6 7.6 6 10.8 5000 500 1 3.2 2.5 4.5 10000 1000 1 6.4 5 9 15000 1500 0.5 4.8 3.8 6.8 30000 3000 0.2 3.8 3 5.4 30000 3000 0.3 5.7 4.5 8.1 50000 5000 0.3 9.5 7.5 13.5 d 100000 10000 0.2 12.7 10 18 d a 优先选用为粗体字的脉冲波形。 b RTCADO160E/F推荐:“功能冲击”6gn,每个方向3次;“坠撞冲击”20gn,每个方向1次。 c 优先用于重复冲击。 d 这些冲击也许不能按本部分的严格要求完全实现。 6 预处理 有关规范可以提出预处理要求。 7 初始检查和功能检测 应按有关规范的固定,对样品进行外观、尺寸和功能检测。 8 试验 应在样品三个正交轴的每个方向依次施加有关规范规定次数的冲击。当多个相同样品受试时,可 以适当地排列样品,以便同时沿3个轴向上冲击(见A.7)。 当安装或运输时,样品的姿态已知,由于冲击在某个轴的某个方向是最敏感的,有关规范应规定在 该轴线、方向和姿态上施加冲击的次数。否则应在三个轴的两个方向上试验。例如,通常最大的冲击加 速度是沿垂直方向。当运输时的姿态已知,冲击应在垂直轴向上的方向。当姿态未知,有关规范应规定 每轴应进行冲击的次数(见A.7)。 有关规范应规定样品在试验中是否工作和是否进行功能监测。 9 恢复 有时有必要在试验后和最终检测前提供一段时间使样品达到与初始检测相同的条件,例如温度。 有关规范应规定恢复的条件。 10 最终检测 对样品应进行外观、尺寸、功能和有关规范规定的其他检查。 有关规范应给出样品接收或拒收的判据。 11 有关规范应给出的信息 当有关规范采用本试验时,只要适用,规范的编写者应提供下列资料。要特别注意有星号(*)标记 的项目,因为该项资料是必需的: 章条号 a) 脉冲波形* 4.1.1、A.3 b) 容差 4.1.1、A.5 c) 速度变化 4.1.3、A.6 d) 横向运动 4.1.4 e) 激励轴、试验姿态和试验轴* 第8章 f) 安装方法* 4.3 g) 严酷度等级* 第5章、A.4 h) 冲击方向和冲击次数* 第5章、第8章 i) 预处理 第6章 j) 初始检查和功能检测 第7章 k) 功能检测 第7章 l) 工作方式和功能监测 第8章 m) 恢复 第9章 n) 接收和拒收的判据* 第10章 o) 最终检测 第10章 12 试验报告应给出的信息 试验报告至少应给出如下信息: a) 客户(名称和地址); b) 试验室(名称和地址); c) 试验报告(签发日期、唯一识别号); d) 试验日期; e) 试验目的(研发试验、验证试验等); f) 试验标准,版本(有关试验的程序); g) 样品描述(唯一标识号、图片、照片、数量、样品首次检验的评价,等等); h) 样品的安装(夹具特性、图片、照片、激励轴线); i) 激励轴线(试验姿态和激励轴线); j) 试验设备的性能(横向运动等); k) 测量系统,传感器位置(描述、图片、照片等); l) 测量系统不确定度(校准数据、上次日期和下次日期); m) 初始、中间或最终测量; n) 要求严酷等级(来自试验规范); o) 试验严酷等级及文件(来自检查点); p) 试验结论(样品情况的评价); q) 试验情况记录; r) 试验摘要; s) 试验负责人(姓名和签名); t) 发送(报告分送清单)。 注:测试记录中宜编写测试日志,例如,带有测试参数的测试运行的时间顺序列表,测试期间的观察和采取的操作, 以及测量的数据表。测试日志可以附加到测试报告中。 附 录 A (规范性附录) 波形的选择和应用导则 A.1 引言 本部分提供了一种再现样品在运输或使用期间所受影响的试验方法。本试验并不是再现真实 环境。 为了使不同的人在不同的实验室所进行的试验能获得一致的试验结果,本试验所规定的参数是经 过标准化的,并且有适当的容差。数值的标准化还可以使元器件能经受住本部分所规定的某种试验严 酷等级的能力来分类。 A.2 试验的应用范围 许多样品在使用、储存、装卸、运输过程中都易经受到冲击。这些冲击的量值变化很大,且具有复杂 的性质。 冲击试验为确定样品承受非重复性和重复性冲击提供了一种简便的方法。本试验是将样品安装在 夹具或冲击试验台台面上进行试验的。如果样品在安装或运输时处于散装状态的重复冲击,那么应该 按照IEC 60068-2-55进行试验(参见附录C)。 冲击试验也适用于对元器件样品为鉴定和(或)质量管理而进行的结......