GB/T 42709.3-2026 相关标准英文版PDF

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标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	详情	状态
GB/T 42709.3-2026	英文版	RFQ	询价	[PDF]天数 <=3	半导体器件微电子机械器件第3部分：拉伸试验用薄膜标准试验片	GB/T 42709.3-2026	有效

基本信息
标准编号	GB/T 42709.3-2026 (GB/T42709.3-2026)
中文名称	半导体器件微电子机械器件第3部分：拉伸试验用薄膜标准试验片
英文名称	Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
行业	国家标准 (推荐)
中标分类	L40
国际标准分类	31.200
发布日期	2026-04-30
实施日期	2026-11-01
发布机构	国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

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