GB/T 42968.8-2023 相关标准英文版PDF

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GB/T 42968.8-2023	英文版	439	GB/T 42968.8-2023	[PDF]天数 <=4	集成电路电磁抗扰度测量第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法	GB/T 42968.8-2023	有效

基本信息
标准编号	GB/T 42968.8-2023 (GB/T42968.8-2023)
中文名称	集成电路电磁抗扰度测量第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法
英文名称	Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method
行业	国家标准 (推荐)
中标分类	L56
国际标准分类	31.200
字数估计	22,224
发布日期	2023-09-07
实施日期	2024-01-01
发布机构	国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

GB/T 42968.8-2023: 集成电路电磁抗扰度测量第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法 ICS 31.200 CCSL56 中华人民共和国国家标准集成电路电磁抗扰度测量第8部分:辐射抗扰度测量IC带状线法 (IEC 62132-8:2012,IDT) 2023-09-07发布 2024-01-01实施国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会发布目次前言 Ⅲ 引言 Ⅳ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 概述 2 5 试验条件 2 5.1 通则 2 5.2 电源电压 3 5.3 频率范围 3 6 试验设备 3 6.1 通则 3 6.2 电缆 3 6.3 屏蔽 3 6.4 RF骚扰发生器 3 6.5 IC带状线 3 6.6 50Ω终端 3 6.7 DUT监测器 3 7 试验布置 3 7.1 通则 3 7.2 试验配置 4 7.3 EMC试验板(PCB) 4 8 试验程序 4 8.1 通则 4 8.2 运行检查 4 8.3 抗扰度测量 5 9 试验报告 6 10 射频抗扰度接受电平 6 附录A(规范性) 场强确定 7 附录B(规范性) IC带状线的描述 9 附录C(资料性) 封闭式带状线的几何尺寸限制 12 参考文献 16 前言本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。本文件是GB/T 42968《集成电路电磁抗扰度测量》的第8部分。GB/T 42968已经发布了以下部分: ---第1部分:通用条件和定义; ---第8部分:辐射抗扰度测量IC带状线法。本文件等同采用IEC 62132-8:2012《集成电路电磁抗扰度测量第8部分:辐射抗扰度测量IC 带状线法》。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。本文件由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口。本文件起草单位:中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市北测标准技术服务有限公司、天津先进技术研究院、北京智芯微电子科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、扬芯科技(深圳)有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、北京无线电计量测试研究所、厦门海诺达科学仪器有限公司、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、中国家用电器研究院、中国合格评定国家认可中心、北京芯可鉴科技有限公司、东南大学、中国汽车工程研究院股份有限公司、广东省科学院电子电器研究所、青岛金汇源电子有限公司、联想(北京)有限公司、西安优来测科技有限公司、中国电力科学研究院有限公司、广州致远电子有限公司。本文件主要起草人:付君、崔强、方文啸、刘小军、吴建飞、乔彦彬、郑益民、叶畅、杨红波、李楠、刘星汛、梁吉明、白云、张艳艳、朱赛、靳冬、刘佳、陈燕宁、邵鄂、周香、黄雪梅、郑泓、李德鹏、吕飞燕、刘易勇、贺伟、陈勇志、陈梅双。引言为规范集成电路电磁抗扰度测量,以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁抗扰度测量方法,GB/T 42968《集成电路电磁抗扰度测量》规定了集成电路电磁抗扰度测量的通用条件、定义和不同测量方法的试验程序和试验要求,拟由7个部分构成。 ---第1部分:通用条件和定义。目的在于规定集成电路电磁抗扰度测量的通用条件和定义。 ---第2部分:辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法。目的在于规定TEM小室和宽带 TEM小室法的试验程序和试验要求。 ---第3部分:大电流注入(BCI)法。目的在于规定大电流注入法的试验程序和试验要求。 ---第4部分:射频功率直接注入法。目的在于规定射频功率直接注入法的试验程序和试验要求。 ---第5部分:工作台法拉第笼法。目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序和试验要求。 ---第8部分:辐射抗扰度测量IC带状线法。目的在于规定IC带状线法的试验程序和试验要求。 ---第9部分:辐射抗扰度测量表面扫描法。目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求。集成电路电磁抗扰度测量第8部分:辐射抗扰度测量IC带状线法 1 范围本文件描述了集成电路(IC)对150kHz~3GHz频率范围内的射频(RF)辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法。 2 规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 42968.1-2023 集成电路电磁抗扰度测量第1部分:通用条件和定义(IEC 62132-1: 2015,IDT) 注:GB/T 42968.1-2023被引用的内容与IEC 62132-1:2006被引用的内容没有技术上的差异。 (IEV)-Chapter131:Circuittheory] 注:GB/T 2900.74-2008 电工术语电路理论(IEC 60050-131:2002,MOD)。注:GB/T 4365-2003 电工术语电磁兼容(IEC 60050-161:1990+A1:1997+A2:1998,IDT)。 IEC 61000-4-20 电磁兼容试验和测量技术横电磁波(TEM)波导中的发射和抗扰度试验[E- 注:GB/T 17626.20-2014 电磁兼容试验和测量技术横电磁波(TEM)波导中的发射和抗扰度试验 (IEC 61000-4-20:2010,IDT)。 ......

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