搜索结果: GB/T 44937.2-2025, GB/T44937.2-2025, GBT 44937.2-2025, GBT44937.2-2025
| 标准编号 | GB/T 44937.2-2025 (GB/T44937.2-2025) | | 中文名称 | 集成电路 电磁发射测量 第2部分：辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法 | | 英文名称 | Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L56 | | 国际标准分类 | 31.200 | | 字数估计 | 18,157 | | 发布日期 | 2025-12-31 | | 实施日期 | 2026-07-01 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 | GB/T 44937.2-2025: 集成电路 电磁发射测量 第2部分：辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法
ICS 31.200
CCSL56
中华人民共和国国家标准
集成电路 电磁发射测量
第2部分:辐射发射测量TEM小室和
宽带TEM小室法
widebandTEMcelmethod
2025-12-31发布 2026-07-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 概述 2
5 试验条件 2
5.1 通则 2
5.2 供电电压 2
5.3 频率范围 2
6 试验设备 2
6.1 通则 2
6.2 屏蔽 2
6.3 射频测量仪器 2
6.4 前置放大器 2
6.5 TEM小室 2
6.6 宽带TEM(GTEM)小室 3
6.7 50Ω终端 3
6.8 系统增益 3
7 试验布置 3
7.1 通则 3
7.2 试验配置 3
7.3 试验PCB 4
8 试验程序 5
8.1 通则 5
8.2 测量环境噪声 6
8.3 检查DUT工作状态 6
8.4 测量DUT发射 6
9 试验报告 6
9.1 通则 6
9.2 测量条件 6
10 IC发射参考电平 6
附录A(资料性) 校准和布置验证表示例 7
附录B(资料性) TEM小室和宽带TEM小室描述 8
B.1 TEM小室 8
B.2 宽带TEM小室 8
附录C(资料性) 根据测得的数据计算偶极矩 9
C.1 概述 9
C.2 偶极矩的计算 9
附录D(资料性) 发射数据规范 10
D.1 概述 10
D.2 发射电平规范 10
D.3 结果表述方式 10
D.4 示例 11
参考文献 12
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
本文件是GB/T 44937《集成电路 电磁发射测量》的第2部分。GB/T 44937已经发布了以下
部分:
---第1部分:通用条件和定义;
---第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法;
---第3部分:辐射发射测量 表面扫描法;
---第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法;
---第5部分:传导发射测量 工作台法拉第笼法;
---第6部分:传导发射测量 磁场探头法;
---第8部分:辐射发射测量 IC带状线法。
本文件等同采用IEC 61967-2:2005《集成电路 电磁发射测量150kHz~1GHz 第2部分:辐射
发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法》。
本文件做了下列最小限度的编辑性改动:
---为与现有标准协调,将标准名称改为《集成电路 电磁发射测量 第2部分:辐射发射测量
TEM小室和宽带TEM小室法》。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本文件由全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC599)归口。
本文件起草单位:中国电子技术标准化研究院、浙江诺益科技有限公司、中国汽车工程研究院股份
有限公司、海研芯(青岛)微电子有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、中山大学、苏州泰思特电子科
技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、
北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、中汽研新能源汽车检验中心(天津)有限公司、中国家用电
器研究院、南京信息工程大学、广州赛宝计量检测中心服务有限公司、海军电磁兼容研究检测中心、中国
合格评定国家认可中心、福州物联网开放实验室有限公司、极氪汽车(宁波杭州湾新区)有限公司、中国
北方车辆研究所、中国信息通信研究院、合兴汽车电子(太仓)有限公司、深圳市必联电子有限公司、中航
光电科技股份有限公司、柳州汽车检测有限公司、重庆新民康科技优先公司、拢泽(上海)技术有限公司。
本文件主要起草人:郑益民、崔强、付君、黄雪梅、吴建飞、方文啸、朱赛、张治中、胡小军、李焕然、
符荣杰、王新才、梁吉明、褚瑞、李齐、菅端端、张洁、谭泽强、亓新、陈彦、张勇、刘佳、赖秋辉、朱崇铭、
赵骥、王紫任、李旺、刘海涛、郭辉、张吉宇、陈小勇、鲍宇航。
引 言
为规范集成电路电磁发射测量,以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁发射测量方
法,GB/T 44937《集成电路 电磁发射测量》规定了集成电路电磁发射测量的通用条件、定义和不同测
量方法的试验程序和试验要求,拟由9个部分构成。
---第1部分:通用条件和定义。目的在于规定集成电路电磁发射测量的通用条件和定义。
---第1-1部分:通用条件和定义 近场扫描数据交换格式。目的在于规定近场扫描数据交换
格式。
---第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法。目的在于规定TEM 小室和宽带
TEM小室法的试验程序和试验要求。
---第3部分:辐射发射测量 表面扫描法。目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求。
---第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法。目的在于规定1Ω/150Ω直接耦合法的
试验程序和试验要求。
---第4-1部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法应用指南。目的在于给出1Ω/150Ω直
接耦合法应用指导。
---第5部分:传导发射测量 工作台法拉第笼法。目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序
和试验要求。
---第6部分:传导发射测量 磁场探头法。目的在于规定磁场探头法的试验程序和试验要求。
---第8部分:辐射发射测量 IC带状线法。目的在于规定IC带状线法的试验程序和试验要求。
集成电路 电磁发射测量
第2部分:辐射发射测量TEM小室和
宽带TEM小室法
1 范围
本文件描述了一种测量集成电路(IC)电磁辐射的方法。受试IC需安装在一块IC试验印制电路板
(PCB)上,该PCB固定在横电磁波(TEM)小室或者吉赫兹横电磁波(GTEM)小室顶部或底部切割出
的一个匹配端口(称为壳体端口)上。该PCB不像通常用法位于小室内,而是作为小室壁面的一部分。
本方法适用于任何修改后增加了壳体端口的TEM小室或GTEM 小室(见附录B)。但是,被测的射频
(RF)电压将会受到很多因素的影响。影响被测RF电压的主要因素是芯板和IC试验PCB(小室壳体)
之间的距离。
本方法使用1GHzTEM小室(芯板与地平面距离为45mm)和GTEM小室(芯板与匹配端口区域
地平面平均距离为45mm)进行试验。其他小室或许不用产生同样的频谱输出,但只要频率和灵敏度
特性允许,也能用作比较测量使用。对于地平面与芯板间距不同的TEM小室或GTEM小室产生的测
量数据,在应用修正系数后再进行比较。
IC试验PCB控制着工作的IC相对于小室的几何位置和方向,避免了IC在小室内的任何电缆连接
(这些线缆布置于PCB背面,位于小室外部)。TEM小室的一个50Ω端口端接50Ω负载。TEM小室
的另一个50Ω端口或GTEM小室的唯一一个50Ω端口,连接到频谱分析仪或接收机的输入端,用以
测量IC产生的并传递在小室芯板上的射频发射。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
Vocabulary(IEV)-Part131:Circuittheory)
注:GB/T 2900.74-2008 电工术语 电路理论(IEC 60050-131:2002,MOD)
注:GB/T 4365-2024电工术语 电磁兼容(IEC 60050-161:2021,MOD)
IEC......
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