GB/T 47239.9-2026 相关标准英文版PDF

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标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	详情	状态
GB/T 47239.9-2026	英文版	379	GB/T 47239.9-2026	[PDF]天数 <=4	半导体器件柔性可拉伸半导体器件第9部分：一晶体管一电阻式（1T1R）电阻存储单元性能测试方法	GB/T 47239.9-2026	有效

基本信息
标准编号	GB/T 47239.9-2026 (GB/T47239.9-2026)
中文名称	半导体器件柔性可拉伸半导体器件第9部分：一晶体管一电阻式（1T1R）电阻存储单元性能测试方法
英文名称	Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
行业	国家标准 (推荐)
中标分类	L55
国际标准分类	31.080.99
字数估计	18,178
发布日期	2026-02-27
实施日期	2026-09-01
发布机构	国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

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