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www.GB-GBT.com 收录标准: 222397 (2026-05-14)

GB/T 4937.9-2026 相关标准英文版PDF

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GB/T 4937.9-2026 英文版 214 GB/T 4937.9-2026 [PDF]天数 <=3 半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分:标志耐久性 GB/T 4937.9-2026 有效
基本信息
标准编号 GB/T 4937.9-2026 (GB/T4937.9-2026)
中文名称 半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分:标志耐久性
英文名称 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 L40
国际标准分类 31.080.01
字数估计 10,142
发布日期 2026-02-27
实施日期 2026-09-01
发布机构 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

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英文网页English: GB/T 4937.9-2026

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