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收录标准: 222397 (2026-05-14)
GB/T 5594.2-1985 相关标准英文版PDF
搜索结果: GB/T 5594.2-1985, GB/T5594.2-1985, GBT 5594.2-1985, GBT5594.2-1985
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GB/T 5594.2-1985
英文版
139
GB/T 5594.2-1985
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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法
GB/T 5594.2-1985
基本信息
标准编号
GB/T 5594.2-1985 (GB/T5594.2-1985)
中文名称
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法
英文名称
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Youngelastic modulus and Poisson ratio
行业
国家标准 (推荐)
中标分类
L32
国际标准分类
31.03
字数估计
3,310
发布日期
11/27/1985
实施日期
12/1/1986
发布机构
国家标准局
范围
本标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量的泊松比的测量。
......
英文网页English:
GB/T 5594.2-1985
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