搜索结果: SJH 20147.1-1992, SJH20147.1-1992
| 标准编号 | SJ 20147.1-1992 (SJ20147.1-1992) | | 中文名称 | 银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法 | | 英文名称 | Measurement methods for electrodeposited silver and silver alloy coating thickness Method by the X-ray fluorescent spectrometry | | 行业 | 电子行业标准 | | 中标分类 | A29 | | 字数估计 | 9,957 | | 发布日期 | 11/19/1992 | | 实施日期 | 5/1/1993 | | 范围 | 本标准规定了用X射线荧光光谱法测量银和银合金镀覆层厚度的方法。它是一种非接触式的无损测量方法。本标准适用于银和银合金镀覆层厚度的测量, 也适用于常用金属镀覆层厚度的测量。该方法还可同时测量出表面镀覆层和中间层的厚度。 |
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