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SJH 21473.2-2018 相关标准英文版PDF

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SJ 21473.2-2018 英文版 839 SJ 21473.2-2018 [PDF]天数 <=4 军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第2部分:辐射抗扰度测量-TEM小室和宽带TEM小室法 SJ 21473.2-2018
基本信息
标准编号 SJ 21473.2-2018 (SJ21473.2-2018)
中文名称 军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第2部分:辐射抗扰度测量-TEM小室和宽带TEM小室法
英文名称 (Military integrated circuit electromagnetic immunity measurement method. Part 2: Radiation immunity measurement-TEM cell and broadband TEM cell method)
行业 电子行业标准
中标分类 L55
国际标准分类 31.200
字数估计 24,285
发布日期 2018
实施日期 2019-03-01
发布机构 工业和信息化部

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英文网页English: SJH 21473.2-2018

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