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SJH 2214.7-1982 相关标准英文版PDF

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SJ 2214.7-1982 英文版 199 SJ 2214.7-1982 [PDF]天数 <=2 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法 SJ 2214.7-1982 作废
基本信息
标准编号 SJ 2214.7-1982 (SJ2214.7-1982)
中文名称 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
英文名称 Method of measurement for saturation voltage of semiconductor phototransistors
行业 电子行业标准
中标分类 L54
字数估计 1,192
发布日期 11/30/1982
实施日期 7/1/1983
标准依据 工业和信息化部公告(2015年第28号); 工科(2010)第77号
范围 本标准适用于光敏三极管饱和压降V(CE(sat))的测试。

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英文网页English: SJH 2214.7-1982

相关标准: SAMR 76 | SJ/T 2216 | SJ/T 2214 | SJ/T 2217 |