SJH 2355.4-1983 相关标准英文版PDF

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标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	详情	状态
SJ 2355.4-1983	英文版	199	SJ 2355.4-1983	[PDF]天数 <=2	半导体发光器件测试方法.结电容的测试方法	SJ 2355.4-1983	作废

基本信息
标准编号	SJ 2355.4-1983 (SJ2355.4-1983)
中文名称	半导体发光器件测试方法.结电容的测试方法
英文名称	Methods of measurement for junction capacitance of light-emitting devices
行业	电子行业标准
中标分类	L53
国际标准分类	31.26
字数估计	1,138
发布日期	8/15/1983
实施日期	7/1/1984
标准依据	工科[2009]第62号

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