SJH 2355.7-1983 相关标准英文版PDF

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SJ 2355.7-1983	英文版	199	SJ 2355.7-1983	[PDF]天数 <=2	半导体发光器件测试方法.发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法	SJ 2355.7-1983	作废

基本信息
标准编号	SJ 2355.7-1983 (SJ2355.7-1983)
中文名称	半导体发光器件测试方法.发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法
英文名称	Method of measurement for peak emission wavelength and spectral radiation bandwidth of light-emitting devices
行业	电子行业标准
中标分类	L53
国际标准分类	31.26
字数估计	2,216
发布日期	8/15/1983
实施日期	7/1/1984
标准依据	工科[2009]第62号

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