搜索结果: SJH 3249.1-1989, SJH3249.1-1989
| 标准编号 | SJ 3249.1-1989 (SJ3249.1-1989) | | 中文名称 | 半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法 | | 英文名称 | Methods of measurement for resistivity of semi-insulation Gallium arsenide and Indium phosphide single crystal material | | 行业 | 电子行业标准 | | 中标分类 | H83;L90 | | 字数估计 | 8,896 | | 发布日期 | 3/20/1989 | | 实施日期 | 3/25/1989 | | 标准依据 | 工科(2010)第77号 | ......
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