SJ/T 2658.8-2015 相关标准英文版PDF

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基本信息
标准编号	SJ/T 2658.8-2015 (SJ/T2658.8-2015)
中文名称	半导体红外发射二极管测量方法第8部分：辐射强度
英文名称	Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode. Part 8: Radiant intensity
行业	电子行业标准 (推荐)
中标分类	L53
国际标准分类	31.08
字数估计	5,514
发布日期	2015-10-10
实施日期	2016-04-01
旧标准 (被替代)	SJ 2658.8-1986
引用标准	GB/T 2900.65-2004; SJ/T 2658.1; CIE 127-1997
标准依据	中华人民共和国工业和信息化部公告 2015年第63号;行业标准备案公告2015年第12号(总第192号)
发布机构	工业和信息化部
范围	本部分规定了半导体红外发射二极管(以下简称器件)辐射强度的测量原理图、测量步骤以及规定条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。

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