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SJZ9154.2-1987 相关标准英文版PDF

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SJ/Z 9154.2-1987 英文版 249 SJ/Z 9154.2-1987 [PDF]天数 <=3 用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第二部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法 SJ/Z 9154.2-1987
基本信息
标准编号 SJ/Z 9154.2-1987 (SJ/Z9154.2-1987)
中文名称 用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第二部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法
英文名称 Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a π-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
行业 电子行业标准
中标分类 L21
字数估计 7,756
实施日期 1/6/1988
采用标准 IEC 444-2-1980, IDT
标准依据 工科(2010) 第77号
范围 本标准描述一个测量1~125MHz石英晶体元件动态电容的方法, 其总测量误差约为5%。本方法的优点是它仅利用SJ/Z 9154-87(IEC 444)标准中描述的测量电路, 而不需要另加部件或仪器, 后者可能是误差的来源。

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英文网页English: SJZ9154.2-1987

相关标准: GB/T 17737.100 | SJ/T 11457.2 | SJ/T 2964.2 | SJ/T 2964.2.1 |