SN/T 2003.3-2006 相关标准英文版PDF

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SN/T 2003.3-2006	英文版	399	SN/T 2003.3-2006	[PDF]天数 <=3	电子电气产品中铅、汞、铬、镉、和溴的测定第3部分:X射线荧光光谱定量筛选法	SN/T 2003.3-2006	作废

基本信息
标准编号	SN/T 2003.3-2006 (SN/T2003.3-2006)
中文名称	电子电气产品中铅、汞、铬、镉、和溴的测定第3部分:X射线荧光光谱定量筛选法
英文名称	Determination of Lead, Mercury, Cadmium and Bromine in electrical and electronic equipment. Part 3: Qualitative screening by X-ray fluorescence spectrometric method
行业	商检行业标准 (推荐)
中标分类	L04
国际标准分类	31.020
字数估计	10,111
发布日期	2006-04-25
实施日期	2006-11-15
引用标准	GB/T 8170; GB/T 15000.5; GB/T 16597
标准依据	行标公告2006年第7号(总第79号);国认科[2010]50号
发布机构	海关总署
范围	本部分规定了用波长色散X射线荧光光谱法定量筛选电子电器产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定方法。本部分适用于电子电器产品中铅、汞、铬、镉和溴的定量筛选测定, 它覆盖了电子电器产品的所有材料型如聚合物、金属制品和电子制品。本部分适用于待测元素的浓度范围如表1所示。

SN/T 2003.3-2006 Determination of Lead, Mercury, Cadmium and Bromine in electrical and electronic equipment.Part 3: Qualitative screening by X-ray fluorescence spectrometric method 中华人民共和国出入境检验检疫行业标准 SN／T２００３．３-２００６电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定第３部分：X射线荧光光谱定量筛选法２００６-０４-２５发布２００６-１１-１５实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布目次前言 Ⅰ １　范围１２　规范性引用文件１３　方法提要１４　试剂和材料２５　仪器２６　试料的制备２７　测试过程３８　结果报告３９　精密度３附录Ａ（规范性附录）　符合性评价５附录Ｂ（资料性附录）　工作曲线的校正６表１　不同基体材料铅、汞、铬、镉和溴的定量筛选测定范围１表２　不同基体材料铅、汞、铬、镉和溴对仪器检出限的要求２表３　电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的Ｘ射线荧光光谱仪测量条件３表４　精密度４ SN／T２００３．３-２００６前言本部分为ＳＮ/T ２００３的第３部分。本部分的附录Ａ为规范性附录，附录Ｂ为资料性附录。本部分起草单位：中华人民共和国广东出入境检验检疫局、中华人民共和国天津出入境检验检疫局、中华人民共和国深圳出入境检验检疫局、中华人民共和国上海出入境检验检疫局。本部分主要起草人：宋武元、黄文娴、魏红兵、钟志光、刘志红、肖前、卫碧文、郑建国、刘丽。本部分由国家认证认可监督管理委员会提出并归口。本部分系首次发布的出入境检验检疫行业标准。 SN／T２００３．３-２００６电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定第３部分：X射线荧光光谱定量筛选法［安全提示］：X射线荧光光谱使用了对人体有危险的放射性辐射，因此使用该仪器时必须遵守仪器生产商申明的和当地规定的安全指令，而且使用该设备的人员需要进行上机前安全培训和定期安全检查。１　范围本部分规定了用波长色散Ｘ射线荧光光谱法定量筛选电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定方法。本部分适用于电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的定量筛选测定，它覆盖了电子电气产品的所有材料类型如聚合物、金属制品和电子制品。本部分适用于待测元素的浓度范围如表１所示。表１　不同基体材料铅、汞、铬、镉和溴的定量筛选测定范围单位为毫克每千克元素聚合物材料金属制品电子元件Ｃｄ P≤（７０-３σ）＜X＜（１３０＋３σ）≤F P≤（７０-３σ）＜X＜（１３０＋３σ）≤F LLD＜X＜（２５０＋３σ）≤F Ｐｂ P≤（７００-３σ）＜X＜（１３００＋３σ）≤F P≤（７００-３σ）＜X＜（１３００＋３σ）≤F P≤（５００-３σ）＜X＜（１５００＋３σ）≤F Ｈｇ P≤（７００-３σ）＜X＜（１３００＋３σ）≤F P≤（７００-３σ）＜X＜（１３００＋３σ）≤F P≤（５００-３σ）＜X＜（１５００＋３σ）≤F Ｂｒ P≤（３００-３σ）＜X P≤（２５０-３σ）＜X Ｃｒ P≤（７００-３σ）＜X P≤（７００-３σ）＜X P≤（５００-３σ）＜X 注１：X表示待测元素的测定值，P表示合格，F表示不合格。注２：LLD表示该元素的检出限，３σ表示精密度。２　规范性引用文件下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。 GB/T ８１７０　数值修约规则 GB/T １５０００．５　标准样品工作导则（５）　化学成分标准样品技术通则 GB/T １６５９７　冶金产品分析方法　Ｘ射线荧光光谱法通则３　方法提要Ｘ射线荧光光谱仪由Ｘ光管、分光晶体、探测器、放大器、脉冲高度分析器、定时器、定标器、计数率记录仪和微处理机等部分组成。由Ｘ光管发射的原级Ｘ射线入射到样品上，样品元素受激发射出荧光Ｘ射线，并与原级Ｘ射线的散射线一起，通过准直器（索勒狭缝），以平行方式投射到晶体表面，按布拉格......

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