YD/T 3037.2-2023 相关标准英文版PDF

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标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	详情	状态
YD/T 3037.2-2023	英文版	RFQ	询价	[PDF]天数 <=3	通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法第2部分：UICC	YD/T 3037.2-2023	有效
YD/T 3037.2-2016	英文版	RFQ	询价	[PDF]天数 <=8	通用集成电路卡(UICC)与终端间USB接口特性测试方法第2部分:UICC	YD/T 3037.2-2016	作废
YD/T 3037.2-2015	英文版	RFQ	询价	[PDF]天数 <=3	通用集成电路卡(UICC) 与终端间USB接口特性测试方法第2部分:UICC	YD/T 3037.2-2015

基本信息
标准编号	YD/T 3037.2-2023 (YD/T3037.2-2023)
中文名称	通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法第2部分：UICC
英文名称	(Test method for characteristics of mass storage interface between Universal Integrated Circuit Card (UICC) and terminals - Part 2: UICC)
行业	邮电行业标准 (推荐)
中标分类	M36
国际标准分类	33.060.20
发布日期	2023-12-20
实施日期	2024-04-01
发布机构	工业和信息化部
范围	本文件规定了通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性的UICC部分测试方法，主要包括：物理特性、电气特性、初始通信协议的建立、功能测试和性能测试。本文件适用于支持大容量存储接口的UICC卡的研发和生产。

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