[PDF] GB 1553-1979 - 中国标准 英文版

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GB 1553-1979 319 GB 1553-1979 <=3 硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法
   
基本信息
标准编号 GB 1553-1979 (GB1553-1979)
中文名称 硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法
英文名称 Measurement of monocrystalline silicon lifetime by D. C photoconductive decay methods
行业 国家标准
中标分类 H21
字数估计 8,837
发布日期 5/26/1979
实施日期 1/1/1980

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相关标准: GB/T 3249  GB/T 1555  GB/T 1553  GB/T 1551