[PDF] GB/T 11685-1989 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 11685-1989 | 639 | GB/T 11685-1989 | <=5 | 半导体X射线能谱仪的测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 11685-1989 (GB/T11685-1989) |
| 中文名称 | 半导体X射线能谱仪的测试方法 |
| 英文名称 | Test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | F80 |
| 字数估计 | 16,160 |
| 发布日期 | 10/14/1989 |
| 实施日期 | 5/1/1990 |
| 采用标准 | IEC 759-1983, NEQ |
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