GB/T 11685-2003 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/T 11685-2003 | 779 | GB/T 11685-2003 | [PDF]天数 <=5 | 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 |
| GB/T 11685-1989 | 639 | GB/T 11685-1989 | [PDF]天数 <=5 | 半导体X射线能谱仪的测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 11685-2003 (GB/T11685-2003) |
| 中文名称 | 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 |
| 英文名称 | Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | F80 |
| 国际标准分类 | 27.120.01 |
| 字数估计 | 30,373 |
| 发布日期 | 2003-07-07 |
| 实施日期 | 2004-01-01 |
| 旧标准 (被替代) | GB/T 8992-1988; GB/T 11685-1989 |
| 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
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