路径: 主页 > GB/T > 第431页 > GB/T 1550-1997 | 标准编号 | GB/T 1550-1997 (GB/T1550-1997) | | 中文名称 | 非本征半导体材料导电类型测试方法 | | 英文名称 | Standard methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | H21;H80 | | 国际标准分类 | 77.040.01 | | 字数估计 | 10,127 | | 发布日期 | 6/3/1997 | | 实施日期 | 12/1/1997 | | 旧标准 (被替代) | GB 1550-1979; GB 5256-1985 | | 采用标准 | ASTM F42-1988, MOD | | 发布机构 | 国家技术监督局 | | 范围 | 本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。本标准适用于非本征半导体材料导电类型的测定, 其中较详细地规定了锗和硅导电类型的测试方法。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得的可靠结果, 对于非均匀试样, 可在其表面上测出不同导电类型区域。本标准方法不适用于分层结构试样, 如外延片的导电类型的测定。 | ......
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