[PDF] GB/T 1553-1997 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 1553-1997 | 679 | GB/T 1553-1997 | <=5 | 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 1553-1997 (GB/T1553-1997) |
| 中文名称 | 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 |
| 英文名称 | Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | H21 |
| 国际标准分类 | 77.040.01 |
| 字数估计 | 17,153 |
| 发布日期 | 6/3/1997 |
| 实施日期 | 12/1/1997 |
| 旧标准 (被替代) | GB 1553-1979; GB 5257-1985 |
| 采用标准 | ASTM F28-1990, MOD |
| 标准依据 | Announcement of Newly Approved National Standards 2009 No. (No. 152 overall) 12 |
| 发布机构 | 国家技术监督局 |
......