[PDF] GB/T 1554-1979 - 英文版

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GB/T 1554-1979 RFQ 点击询价 <=3 硅单晶(111)晶面位错蚀抗腐蚀显示测量方法
   
基本信息
标准编号 GB/T 1554-1979 (GB/T1554-1979)
中文名称 硅单晶(111)晶面位错蚀抗腐蚀显示测量方法
英文名称 Measurement of dislocation etch pits on (111) crystal face in monocrystalline silicon by etch display methods
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 H26
发布日期 5/26/1979

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相关标准: GB/T 3310  GB/T 6519  GB/T 6402  GB/T 1554