[PDF] GB/T 1555-1997 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 1555-1997 | 319 | GB/T 1555-1997 | <=3 | 半导体单晶晶向测定方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 1555-1997 (GB/T1555-1997) |
| 中文名称 | 半导体单晶晶向测定方法 |
| 英文名称 | Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | H21 |
| 国际标准分类 | 29.045 |
| 字数估计 | 8,858 |
| 发布日期 | 12/22/1997 |
| 实施日期 | 8/1/1998 |
| 旧标准 (被替代) | GB 1555-1979; GB 1556-1979; GB 5254-1985; GB 5255-1985; GB 8759-1988 |
| 采用标准 | ASTM F26-1987a, MOD |
| 标准依据 | Announcement of Newly Approved National Standards 2009 No. (No. 152 overall) 12 |
| 发布机构 | 国家质量技术监督局 |