[PDF] GB/T 17473.3-1998 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 17473.3-1998 | 279 | GB/T 17473.3-1998 | <=3 | 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 17473.3-1998 (GB/T17473.3-1998) |
| 中文名称 | 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定 |
| 英文名称 | Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of sheet resistance |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | H21 |
| 国际标准分类 | 77.040.01 |
| 字数估计 | 7,717 |
| 发布日期 | 8/19/1998 |
| 实施日期 | 3/1/1999 |
| 标准依据 | Announcement of Newly Approved National Standards No. 5 of 2008 (No. 118 overall) |
| 发布机构 | 国家质量技术监督局 |