| 标准编号 | GB/T 20726-2006 (GB/T20726-2006) |
| 中文名称 | 半导体探测器X射线能谱仪通则 |
| 英文名称 | Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | N33 |
| 国际标准分类 | 71.040.99 |
| 字数估计 | 11,129 |
| 发布日期 | 2006-12-25 |
| 实施日期 | 2007-08-01 |
| 采用标准 | ISO 15632-2002, IDT |
| 标准依据 | 国家标准批准发布公告2006年第13号(总第100号);国家标准公告2015年第31号 |
| 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 范围 | 本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪(EDS)特性最重要的量值。本标准仅适用于固态电离作用原理的半导体探测器EDS。本标准只规定了与电子探针(EPMA)或扫描电镜(SEM)联用的此类EDS的最低要求, 至于如何实现分析则不在本标准的规定范围之内。 |