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| 标准编号 | GB/T 22092-2008 (GB/T22092-2008) | | 中文名称 | 电子数显测微头和深度千分尺 | | 英文名称 | Fixed micrometer and depth micrometer with electronic digital display | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | J42 | | 国际标准分类 | 17.040.30 | | 字数估计 | 10,118 | | 发布日期 | 2008-06-25 | | 实施日期 | 2009-01-01 | | 引用标准 | GB/T 1216-2004; GB/T 2423.3-2006; GB/T 2423.22-2002; GB 4208-2008; GB/T 17163; GB/T 17164; GB/T 17626.2-2006; GB/T 17626.3-2006 | | 标准依据 | 国家标准批准发布公告2008年第11号(总第124号) | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本标准规定了电子数显测微头和深度千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于分辨力高于或等于0.001㎜, 量程小于或等于30㎜的电子数显测微头和深度千分尺。量程等于50㎜的电子数显测微头和深度千分尺参见附录A。 | GB/T 22092-2008
Fixed micrometer and depth micrometer with electronic digital display
ICS １７．０４０．３０
J４２
中华人民共和国国家标准
GB/T ２２０９２-２００８
电子数显测微头和深度千分尺
２００８-０６-２５发布
２００９-０１-０１实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
前言
本标准的附录Ａ为资料性附录。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（ＳＡＣ/TＣ１３２）归口。
本标准负责起草单位：苏州麦克龙测量技术有限公司。
本标准参加起草单位：成都工具研究所。
本标准主要起草人：黄晓宾、张洪玲、姜志刚。
GB/T ２２０９２-２００８
电子数显测微头和深度千分尺
１ 范围
本标准规定了电子数显测微头和深度千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验
方法、标志与包装等。
本标准适用于分辨力高于或等于０．００１ｍｍ，量程小于或等于３０ｍｍ的电子数显测微头和深度千
分尺。量程等于５０ｍｍ的电子数显测微头和深度千分尺参见附录Ａ。
２ 规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有
的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究
是否使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
GB/T １２１６-２００４ 外径千分尺
GB/T ２４２３．３-２００６ 电工电子产品环境试验 第２部分：试验方法 试验Ｃａｂ：恒定湿热试验
（IEC ６００６８-２-７８：２００１，ＩＤＴ）
GB/T ２４２３．２２-２００２ 电工电子产品环境试验 第２部分：试验方法 试验 Ｎ：温度变化
（IEC ６００６８-２-１４：１９８４，ＩＤＴ）
GB ４２０８-２００８ 外壳防护等级（ＩＰ代码）
GB/T １７１６３ 几何量测量器具术语 基本术语
GB/T １７１６４ 几何量测量器具术语 产品术语
GB/T １７６２６．２-２００６ 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验（IEC ６１０００-４-２：２００１，
ＩＤＴ）
GB/T １７６２６．３-２００６ 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验（IEC ６１０００-４-
３：２００２，ＩＤＴ）
３ 术语和定义
GB/T １７１６３和GB/T １７１６４中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。
３．１
利用角度传感器、电子和数字显示技术，计算并显示电子数显千分尺的螺旋副位移的装置。以下......
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