路径: 主页 > GB/T > 第198页 > GB/T 33768-2017 | 标准编号 | GB/T 33768-2017 (GB/T33768-2017) | | 中文名称 | 通信用光电子器件可靠性试验方法 | | 英文名称 | Reliability test method for optoelectronic devices used in telecommunications | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | M31 | | 国际标准分类 | 33.180.20 | | 字数估计 | 38,350 | | 发布日期 | 2017-05-31 | | 实施日期 | 2017-12-01 | | 引用标准 | GB/T 19001; GB/T 21194 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本标准规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的术语和定义、一般要求、详细要求，包括试验的目的、设备、条件、程序、检验及失效判据。本标准适用于通信用光电子器件，其他领域的光电子器件也可参照使用。 | GB/T 33768-2017
Reliability test method for optoelectronic devices used in telecommunications
ICS 33.180.20
M31
中华人民共和国国家标准
通信用光电子器件可靠性试验方法
2017-05-31发布
2017-12-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 一般要求 1
4.1 试验类型 1
4.2 试验设备 1
4.3 试验环境 2
4.4 抽样方案 2
4.5 试验报告 2
5 详细要求 3
5.1 符合性试验 3
5.1.1 光电特性 3
5.1.2 外形尺寸 4
5.1.3 外部目检 4
5.2 机械完整性试验 5
5.2.1 机械冲击 5
5.2.2 变频振动 6
5.2.3 热冲击 7
5.2.4 光纤扭力 8
5.2.5 光纤侧向拉力 9
5.2.6 光纤拉力 9
5.2.7 引脚牢固性 10
5.2.8 连接器插拔耐久性 11
5.2.9 受力传输 12
5.3 环境试验 13
5.3.1 高温贮存 13
5.3.2 低温贮存 14
5.3.3 温度循环 14
5.3.4 恒定湿热 16
5.3.5 抗潮湿循环 16
5.3.6 高温寿命 18
5.4 物理特性试验 19
5.4.1 内部水汽含量 19
5.4.2 密封性 20
5.4.3 ESD阈值 22
5.4.4 ESD抗扰度 24
5.4.5 芯片剪切力 27
5.4.6 可焊性 28
5.4.7 引线键合强度 30
5.4.8 可燃性 31
参考文献 34
前言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由工业和信息化部(通信)归口。
本标准起草单位:武汉烽火科技集团有限公司、中兴通讯股份有限公司、中国信息通信研究院、深圳
新飞通光电子技术有限公司。
本标准起草人:赵先明、宋梦洋、江毅、龚雪、罗勇、邓智芳、杨春、武成宾、赵文玉、陈悦。
通信用光电子器件可靠性试验方法
1 范围
本标准规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的术语和定义、一般要求、详细要求,包括试验的
目的、设备、条件、程序、检验及失效判据。
本标准适用于通信用光电子器件,其他领域的光电子器件也可参照使用。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 19001 质量管理体系 要求
GB/T 21194 通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求
3 术语和定义
GB/T 21194界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
光电子器件 optoelectronicdevice
具有光电特性的元件。
注:包括但不限于激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及由它们组成的组件或模块,统称“光电
子器件”。
3.2
试样 specimen
用作可靠性试验的光电子器件样品。
3.3
失效 failure
光电子器件达不到规定的光电参数和/或物理参数时,称为失效。
3.4
失效判据 failurecriterion
判定光电子器件失效的依据。
4 一般要求
4.1 试验类型
......
|