[PDF] GB/T 34190-2017 - 自动发货. 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 34190-2017 | 145 | GB/T 34190-2017 | 9秒内发货PDF | 电工钢表面涂层的重量（厚度） X射线光谱测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 34190-2017 (GB/T34190-2017) |
| 中文名称 | 电工钢表面涂层的重量（厚度） X射线光谱测试方法 |
| 英文名称 | Surface coating weight (thickness) of electrical steel - X-ray spectrometric method |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | H21 |
| 字数估计 | 10,146 |
| 发布日期 | 2017-09-07 |
| 实施日期 | 2018-06-01 |
| 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
GB/T 34190-2017: 电工钢表面涂层的重量（厚度） X射线光谱测试方法
GB/T 34190-2017 英文名称: Surface coating weight (thickness) of electrical steel -- X-ray spectrometric method
1 范围
本标准规定了利用X射线光谱法测试电工钢表面涂层重量(厚度)的方法。
本方法用于室温下测量试样单位面积上的涂层重量,其测量结果也可以用涂层厚度表示。
本标准适用于表面涂层中含有稳定的、不受干扰的、X射线荧光强度较大的特性元素的电工钢,给定涂层材料的测量范围主要取决于可获得的特征X射线荧光强度和可接受的测量不确定度,并且因所使用的仪器设备和测量方式而不同。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 16921 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法
3 术语和定义
GB/T 16921界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
基体
在其表面涂覆涂层的材料。
3.2
表面涂层
涂覆在电工钢基体上主要起绝缘保护功能的材料,例如铬酸盐或磷酸盐等无机或半有机涂层材料。
3.3
中间涂层
涂覆在电工钢基体和表面涂层间,有一定厚度(小于饱和厚度)、起一定作用的功能材料。
若用散射法对表面涂层进行分析测试,只要中间涂层不影响测量结果,中间涂层可视为基体的一
部分。
4 原理
单位面积涂层重量(若涂层密度已知,也可以是涂层厚度)与荧光强度间存在一定关系。对任何测
量设备而言,这种关系首先需要用已知单位面积涂层重量的标准样品建立校准曲线。若涂层密度已给定或实际密度已知,该标样的涂层重量可用涂层厚度对应表示。
注1:涂层密度是指凃液在钢板上固化后的密度,可能与测量时涂层的理论密度不一致。若密度与测量标准曲线采用的密度不一样,需要在测试报告中用因子来体现差异并注明。
荧光强度与元素原子序数有关。涂层与基体中可能含有多种元素,每个元素均会产生特征谱线。
因此,需要调整合适的探测系统,选择一个或多个能带,以便设备能够同时测量涂层厚度和组分。
注2:取向电工钢表面涂层重量测量可采用涂层中的Cr-Kα射线,无取向电工钢表面涂层重量测量可采用涂层中的Cr-Kα或P-Kα等射线。
5 测量方法
5.1 X射线激发
5.1.1 通则
利用X射线荧光光谱法测试涂层重量(厚度)主要基于用初级X射线照射涂层或基体作用而产生
高强度的X射线荧光。这种作用产生了体现涂层和基体中元素特征的二次射线,这些二次射线有离散的波长或放射能,一般初级X射线通过高压X射线管产生。
5.1.2 激发
给X射线管提供足够的能量和稳定的环境,会产生初级X射线。大多数厚度测量设备的应用电压
为25kV~50kV,但低原子序数涂层材料可能会降至10kV。一般情况下,会在X射线管和试样间增
加一个初级滤波器以减少测量的潜在偏离。
这种激发方式的主要特点如下:
a) 可在很小的测量区域上产生平行的、高能的射线束;
b) 能够方便地达到人身安全防护要求;
c) 通过电子技术获得能量稳定的散射射线。
5.2 X射线色散
5.2.1 通则
涂层厚度测量中,涂层表面散射出的X射线荧光通常含有很多组分,一般通过波长或能量色散分
离出需要的射线组分。
5.2.2 波长色散
通过晶体分光计可以筛选涂层或基体的特征波长射线。
5.2.3 能量色散
X射线通常以波长或等效能来确定。波长λ与能量E 间的关系如式(1):
5.3 X射线探测
用于波长色散系统的探测器可以是正比计数器或闪烁计数器。
用于能量色散系统、适合接收荧光光子的探测器一般由制造商根据设备应用选择。在能量为
1.5keV~100keV的范围内,一般在大气环境条件下测量,可以不需要真空或氦气环境。
不同能量特征的荧光射线进入能量色散探测器后,多道分析器对特征谱线进行探测。
5.4 涂层重量(厚度)测量
5.4.1 散射法
使用散射法时,从涂层元素的多条特征谱线中选择一条合适的谱线,例如铬酸盐涂层中的Cr-Kα
线,用检测系统检测其荧光强度。
一般情况下,特征元素是指涂层中含量较大、原子序数较大且基体中不存在或可以忽略的元素。涂层重量的零点是仅对无涂层样品测量时产生的散射线强度,又称为背底,而涂层重量的最大点是对某一“无限”厚样品进行测量时产生的散射线强度,一般是常用测量范围的1.5倍或2.0倍。
通常情况下,散射的X射线荧光强度主要取决于激发能、涂层特征元素原子序数、样品一次射线的照射面积及单位面积上的涂层重量。若其他影响因素恒定不变,则X射线荧光强度与涂层单位面积重量或厚度有函数关系。
测量电工钢涂层特征射线强度时,涂层厚度增大至饱和厚度荧光射线强度是不断增大的,如图1a)
所示。
5.4.2 吸收法
使用吸收法时,从基体元素的多条特征谱线中选择一条合适的谱线,用检测系统检测其荧光强度。
当基体未涂涂层时,X射线荧光强度达到最大值,随着涂层重量的增加,射线强度不断减小,如图1b)所示,这是因为被散射的射线荧光在通过涂层时不断衰减所致。
当单位面积涂层重量增加至一定值时,基体材料的特征谱线会消失,但可能仍会存在一定量的背景
散射。因此,运用吸收法检测单位面积涂层重量并不适用于有中间涂层的材料,这是因为中间涂层的吸收效应会更加显著。吸收法一般用于薄涂层,且涂层中不含铁元素。
跟散射法一致的是,若其他影响因素恒定不变,则特征X射线荧光强度与涂层单位面积重量或厚
度有函数关系。
5.4.3 比率法
若条件允许,可采用吸收法和散射法分别测量基体和涂层的射线强度,将涂层厚度表示为基体和涂
层的射线强度的比值。这种方法的特点是,测量不受样品和探测器间的距离影响。
5.4.4 测量曲线
使用散射法或吸收法时,通常将强度归一化后定义射线强度与涂层单位面积重量(g/m2)或厚度
(μm)的函数关系。无涂层的基体材料强度归一化系数为0,饱和厚度样品的强度归一化系数为1,如
图2所示。
5.4.5 测量点
对电工钢涂层重量控制时,使用散射法或吸收法的测量点选择一般按照图3所示。双面涂层测量
时应区分测量面。
注:为评价测量面边部与中部的差异,单面同一测量路径上的测量点应不小于3个,若条件允许,可增加测量点数量。
6 测量装置
测量设备硬件部分主要由X射线发生器、分光器、准直器、射线探测器、脉冲吸收器、试样台及相应防护装置等构成。
测量设备软件系统主要用于测量曲线建立、测量结果处理等过程。
注:附录A和附录B给出了制作标准样品和建立涂层重量标准曲线的参考信息。
7 影响因素
通常,在相同时间间隔内散射的量子数是不一定相同的,这就带来了计数上统计误差。为了使这一
误差降低至可接受水平,应尽可能地延长计数周期。
由于样品的均匀性问题,应尽可能选择较大的测量区域。
由于涂层可能含有多种掺杂物,基体中存在其他合金元素,容易产生与特征谱线相近或相同干扰谱
线,这在测量中要尽量消除。
8 测量过程
8.1 测量前应检查试验装置的稳定性,并且注意第6章中的影响因素。
8.2 根据需要,定义单个测量点的测量面积及测量速度。通常,在线测量时,单个测量点的测量面积应不小于1000mm2,横向扫描速度应小于25mm/s,单个测量点的测试时间不小于4s;而离线测量时,
单个测量点的测量面积应不小于500mm2,单个测量点的测试时间应不小于2s。
8.3 试样边部和中部的测试位置按照图3所示确定。
9 测量结果
除非另有规定,测量结果一般用单位面积表面涂层重量表示,单位为g/m2,若采用涂层厚度表示,
则单位为μm。测量结果保留两位有效数字。
10 测量不确定度
测量结果的不确定度除了与......
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