[PDF] GB/T 4058-1983 - 英文版

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GB/T 4058-1983 RFQ 点击询价 <=3 硅单晶微缺陷的热氧化腐蚀检验方法
   
基本信息
标准编号 GB/T 4058-1983 (GB/T4058-1983)
中文名称 硅单晶微缺陷的热氧化腐蚀检验方法
英文名称 Single crystal silicon--Detection of microdefects--Hot oxidation-etching technique
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 H26
发布日期 12/20/1983

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相关标准: GB/T 3310  GB/T 6519  GB/T 6402  GB/T 4058