[PDF] GB/T 4058-1995 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 4058-1995 | 359 | GB/T 4058-1995 | <=3 | 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 4058-1995 (GB/T4058-1995) |
| 中文名称 | 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法 |
| 英文名称 | Test method for detection of oxidation induced defects in polished silicon wafers |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | H26 |
| 国际标准分类 | 77.040.30 |
| 字数估计 | 9,996 |
| 发布日期 | 4/18/1995 |
| 实施日期 | 12/1/1995 |
| 旧标准 (被替代) | GB 4058-1983; GB 6622-1986; GB 6623-1986 |
| 引用标准 | GB/T 1554; YS/T 209 |
| 标准依据 | Announcement of Newly Approved National Standards 2009 No. (No. 152 overall) 12 |
| 发布机构 | 国家技术监督局 |