[PDF] GB/T 47073-2026 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 47073-2026 | 694 | GB/T 47073-2026 | <=5 | 表面化学分析 深度剖析 中能离子散射术对硅基底上纳米尺度重金属氧化物薄膜的无损深度剖析 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 47073-2026 (GB/T47073-2026) |
| 中文名称 | 表面化学分析 深度剖析 中能离子散射术对硅基底上纳米尺度重金属氧化物薄膜的无损深度剖析 |
| 英文名称 | Surface chemical analysis - Depth profiling - Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | G04 |
| 国际标准分类 | 71.040.40 |
| 发布日期 | 2026-01-28 |
| 实施日期 | 2026-08-01 |
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