[PDF] GB/T 4937-1995 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 4937-1995 | RFQ | 点击询价 | <=9 | 半导体器件机械和气候试验方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 4937-1995 (GB/T4937-1995) |
| 中文名称 | 半导体器件机械和气候试验方法 |
| 英文名称 | Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L40 |
| 国际标准分类 | 31.08 |
| 字数估计 | 35,322 |
| 发布日期 | 12/22/1995 |
| 实施日期 | 8/1/1996 |
| 旧标准 (被替代) | GB 4937-1986 |
| 引用标准 | GB 2421-1989; GB 2423; GB 2424; GB 5169.5-1982; IEC 747; IEC 748 |
| 标准依据 | Announcement of Newly Approved National Standards No. 9, 2006 (No. 96 overall) |
| 发布机构 | 国家技术监督局 |
| 范围 | 本标准列出了适用于半导体器件(分立器件和集成电路)的试验方法。使用时可从中进行选择。对于非空腔器件, 可以要求补充的试验方法。 |
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