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标准号码 |
标准名称 |
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GB/T 7577-1996
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低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范
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GB/T 4586-1994
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半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
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GB/T 4587-1994
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半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
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GB/T 11590-1989
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公用数据网的国际数据传输业务和任选的用户业务设施
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GB/T 7576-1987
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高频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范(可供认证用)
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GB/T 7581-1987
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半导体分立器件外形尺寸
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GB/T 6217-1986
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高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范(可供认证用)
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GB/T 6219-1986
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1GHz、5W以下的单栅场效应晶体管空白详细规范(可供认证用)
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GB/T 6256-1986
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工业加热三极管空白详细规范(可供认证用)
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GB/T 21039.1-2007
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半导体器件 分立器件 第4-1部分：微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范
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GB/T 6589-2002
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半导体器件 分立器件 第3-2部分:信号(包括开关)和调整二极管电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管)空白详细规范
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GB/T 6588-2000
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半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 第1篇 信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范
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GB/T 15649-1995
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半导体激光二极管空白详细规范
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GB/T 6571-1995
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半导体器件 分立器件 第3部分:信号 (包括开关) 和调整二极管
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GB/T 15137-1994
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体效应二极管空白详细规范
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GB/T 15177-1994
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微波检波、混频二极管空白详细规范
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GB/T 15178-1994
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变容二极管空白详细规范
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GB/T 14863-1993
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用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法
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GB/T 13063-1991
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电流调整和电流基准二极管空白详细规范
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GB/T 13066-1991
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单结晶体管空白详细规范
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GB/T 12562-1990
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PIN 二极管空白详细规范 (可供认证用)
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GB/T 6570-1986
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微波二极管测试方法
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GB/T 6588-1986
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通用信号和(或)开关半导体二极管空白详细规范(可供认证用)
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GB/T 6589-1986
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电压调整和电压基准二极管(包括温度补偿精密基准二极管)空白详细规范(可供认证用)
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GB/T 45716-2025
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半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的偏置温度不稳定性试验
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GB/T 45718-2025
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半导体器件 内部金属层间的时间相关介电击穿（TDDB）试验
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GB/T 45719-2025
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半导体器件 金属氧化物半导体（MOS） 晶体管的热载流子试验
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GB/T 45721.1-2025
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半导体器件 应力迁移试验 第1部分：铜应力迁移试验
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GB/T 45722-2025
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半导体器件 恒流电迁移试验
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GB/T 4937.34-2024
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半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分：功率循环
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GB/T 4937.35-2024
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半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查
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GB/T 42706.2-2023
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电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理
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GB/T 42706.5-2023
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电子元器件 半导体器件长期贮存 第5部分：芯片和晶圆
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GB/T 42709.5-2023
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半导体器件 微电子机械器件 第5部分：射频MEMS开关
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GB/T 42709.7-2023
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半导体器件 微电子机械器件 第7部分：用于射频控制和选择的MEMS体声波滤波器和双工器
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GB/T 4937.23-2023
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半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命
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GB/T 4937.27-2023
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半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试 机器模型（MM）
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GB/T 4937.31-2023
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半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的）
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GB/T 4937.32-2023
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半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分：塑封器件的易燃性（外部引起的）
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GB/T 4937.42-2023
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半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分：温湿度贮存
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GB/T 42709.19-2023
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半导体器件 微电子机械器件 第19部分：电子罗盘
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GB/T 4587-2023
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半导体器件 分立器件 第7部分：双极型晶体管
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GB/T 4937.26-2023
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半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）
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GB/T 4937.11-2018
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半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法
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GB/T 4937.12-2018
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半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动
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GB/T 4937.13-2018
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半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾
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GB/T 4937.14-2018
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半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分：引出端强度（引线牢固性）
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GB/T 4937.15-2018
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半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分：通孔安装器件的耐焊接热
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GB/T 4937.17-2018
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半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照
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GB/T 4937.18-2018
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半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分：电离辐照(总剂量)
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GB/T 4937.19-2018
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半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分：芯片剪切强度
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GB/T 4937.201-2018
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半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分：对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输
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GB/T 4937.20-2018
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半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分：塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响
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GB/T 4937.21-2018
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半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分：可焊性
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GB/T 4937.22-2018
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半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分：键合强度
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GB/T 4937.30-2018
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半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
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GB/T 249-2017
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半导体分立器件型号命名方法
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GB/T 29827-2013
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信息安全技术 可信计算规范 可信平台主板功能接口
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GB/T 18910.11-2012
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液晶显示器件 第1-1部分：术语和符号
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GB/T 4937.3-2012
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半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
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GB/T 4937.4-2012
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半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)
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GB/T 18910.22-2008
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液晶显示器件 第2-2部分：彩色矩阵液晶显示模块 空白详细规范
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GB/T 18910.41-2008
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液晶显示器件 第4-1部分：彩色矩阵液晶显示模块 基本额定值和特性
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GB/T 20870.1-2007
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半导体器件 第16-1部分：微波集成电路 放大器
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GB/T 20516-2006
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半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件
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GB/T 20521-2006
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半导体器件 第14-1部分：半导体传感器 - - 总则和分类
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GB/T 20522-2006
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半导体器件 第14-3部分：半导体传感器 - - 压力传感器
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GB/T 4589.1-2006
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半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
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GB/T 4937.1-2006
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半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则
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GB/T 4937.2-2006
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半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分：低气压
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GB/T 18910.2-2003
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液晶和固态显示器件 第2部分:液晶显示模块分规范
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GB/T 18910.1-2002
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液晶和固态显示器件 第1部分:总规范
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GB/T 11499-2001
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半导体分立器件文字符号
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GB/T 12560-1999
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半导体器件 分立器件分规范
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GB/T 17573-1998
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半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分;总则
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GB/T 15651-1995
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半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
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GB/T 4937-1995
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半导体器件机械和气候试验方法
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GB/T 12300-1990
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功率晶体管安全工作区测试方法
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GB/T 12560-1990
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半导体器件 分立器件分规范 (可供认证用)
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GB/T 249-1989
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半导体分立器件型号命名方法
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GB/T 4589.1-1989
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半导体器件 分立器件和集成电路总规范(可供认证用)
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GB/T 45618-2025
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日盲紫外像增强器技术要求
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GB/T 13709-2015
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工业用X射线管空白详细规范
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GB/T 12078-2012
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X 射线管总规范
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GB/T 12079-2012
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X射线管光电性能测试方法
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GB/T 5295-2012
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光阴极光谱响应特性系列
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GB/T 6996-2012
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透射式电视测试图
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GB/T 13170-2011
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反射式电视测试图
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GB/T 15648-1995
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辉光放电显示管测试方法
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GB/T 3790-1995
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荧光显示管测试方法
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GB/T 6428-1995
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氢闸流管测试方法
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GB/T 15301-1994
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气体激光器总规范
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GB/T 3213-1994
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闸流管与充气整流管测试方法
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GB/T 14110-1993
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闸流管与充气整流管总规范
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GB/T 14111-1993
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闸流管与充气整流管空白详细规范
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GB/T 14182-1993
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变象管和增强管总规范
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GB/T 14183-1993
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变象管和增强管 空白详细规范
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GB/T 14184-1993
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变象管和增强管 测试方法
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GB/T 14186-1993
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充气稳压管总规范
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GB/T 14279-1993
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交流等离子体显示器件 空白详细规范
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