[PDF] GB/T 5594.2-1985 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 5594.2-1985 | 139 | GB/T 5594.2-1985 | <=2 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 5594.2-1985 (GB/T5594.2-1985) |
| 中文名称 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 |
| 英文名称 | Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Youngelastic modulus and Poisson ratio |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L32 |
| 国际标准分类 | 31.03 |
| 字数估计 | 3,310 |
| 发布日期 | 11/27/1985 |
| 实施日期 | 12/1/1986 |
| 发布机构 | 国家标准局 |
| 范围 | 本标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量的泊松比的测量。 |
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