|
标准号码 |
标准名称 |
|
GB/T 3306.22-1982
|
小功率电子管电性能测试方法 低频杂音的测试方法
|
|
GB/T 3306.23-1982
|
小功率电子管电性能测试方法 高频杂音的测试方法
|
|
GB/T 3306.24-1982
|
小功率电子管电性能测试方法 哼声的测试方法
|
|
GB/T 3306.3-1982
|
小功率电子管电性能测试方法 对阴极具有负电位的栅极电流的测试方法
|
|
GB/T 3306.4-1982
|
小功率电子管电性能测试方法 阴极电流的测试方法
|
|
GB/T 3306.5-1982
|
小功率电子管电性能测试方法 阴极发射电流的测试方法
|
|
GB/T 3306.6-1982
|
小功率电子管电性能测试方法 整流状态的测试方法
|
|
GB/T 3306.7-1982
|
小功率电子管电性能测试方法 跨导的测试方法
|
|
GB/T 3306.8-1982
|
小功率电子管电性能测试方法 放大系数的测试方法
|
|
GB/T 3306.9-1982
|
小功率电子管电性能测试方法 内阻的测试方法
|
|
GB/T 3307-1982
|
小功率电子管灯丝断续试验方法
|
|
GB/T 787-2013
|
收讯放大管机械尺寸
|
|
GB/T 4597-2012
|
电子管词汇
|
|
GB/T 4183-2002
|
钼钨合金丝
|
|
GB/T 2987-1996
|
电子管参数符号
|
|
GB/T 4597-1996
|
电子管词汇
|
|
GB/T 12855-1991
|
小功率发射管的使用和维护
|
|
GB/T 3789.10-1991
|
发射管电性能测试方法 第一栅极截止电压的测试方法
|
|
GB/T 3789.11-1991
|
发射管电性能测试方法 第三栅极截止电压的测试方法
|
|
GB/T 3789.1-1991
|
发射管电性能测试方法 总则
|
|
GB/T 3789.12-1991
|
发射管电性能测试方法 极间绝缘的测试方法
|
|
GB/T 3789.13-1991
|
发射管电性能测试方法 共栅电路静态特性曲线的测试方法
|
|
GB/T 3789.14-1991
|
发射管电性能测试方法 共阴电路静态特性曲线的测试方法
|
|
GB/T 3789.15-1991
|
发射管电性能测试方法 输出功率的测试方法
|
|
GB/T 3789.16-1991
|
发射管电性能测试方法 脉冲输出功率的测试方法
|
|
GB/T 3789.17-1991
|
发射管电性能测试方法 电气强度的测试方法
|
|
GB/T 3789.18-1991
|
发射管电性能测试方法 电极间绝缘体高频损耗的测试方法
|
|
GB/T 3789.19-1991
|
发射管电性能测试方法 频率特性曲线的测试方法
|
|
GB/T 3789.20-1991
|
发射管电性能测试方法 第一栅极电流截止电压的测试方法
|
|
GB/T 3789.21-1991
|
发射管电性能测试方法 静态特性参考点的测试方法
|
|
GB/T 3789.2-1991
|
发射管电性能测试方法 阳极电流和栅极电流的测试方法
|
|
GB/T 3789.22-1991
|
发射管电性能测试方法 振动稳定性的测试方法
|
|
GB/T 3789.23-1991
|
发射管电性能测试方法 第三栅极控制能力的测试方法
|
|
GB/T 3789.24-1991
|
发射管电性能测试方法 线性放大管双音互调失真的测试方法
|
|
GB/T 3789.25-1991
|
发射管电性能测试方法 图象输出功率的测试方法
|
|
GB/T 3789.26-1991
|
发射管电性能测试方法 功率增益的测试方法
|
|
GB/T 3789.27-1991
|
发射管电性能测试方法 三音互调失真的测试方法
|
|
GB/T 3789.28-1991
|
发射管电性能测试方法 交叉调制的测试方法
|
|
GB/T 3789.29-1991
|
发射管电性能测试方法 低频亮度非线性的测试方法
|
|
GB/T 3789.30-1991
|
发射管电性能测试方法 由亮度信号不同引起的色度信号失真(微分增益DG和微分相位DP)的测试方法
|
|
GB/T 3789.31-1991
|
发射管电性能测试方法 同步脉冲压缩的测试方法
|
|
GB/T 3789.3-1991
|
发射管电性能测试方法 阴极发射电流的测试方法
|
|
GB/T 3789.4-1991
|
发射管电性能测试方法 栅极反向电流的测试方法
|
|
GB/T 3789.5-1991
|
发射管电性能测试方法 栅极热放射电流的测试方法
|
|
GB/T 3789.6-1991
|
发射管电性能测试方法 跨导、放大系数的测试方法
|
|
GB/T 3789.7-1991
|
发射管电性能测试方法 阳极离子流的测试方法
|
|
GB/T 3789.8-1991
|
发射管电性能测试方法 阳极最大耗散功率和阳极过载耗散功率的测试方法
|
|
GB/T 3789.9-1991
|
发射管电性能测试方法 栅极最大耗散功率的测试方法
|
|
GB/T 7274-1987
|
电子管极间电容测试方法
|
|
GB/T 4965-1985
|
吸气剂分类及型号命名方法
|
|
GB/T 3188-1982
|
电子管外形尺寸
|
|
GB/T 3189-1982
|
电子管引出帽连接尺寸
|
|
GB/T 787-1974
|
电子管管基尺寸
|
|
GB/T 10405-2001
|
控制电机型号命名方法
|
|
GB/T 7346-1998
|
控制电机基本外形结构型式
|
|
GB/T 16961-1997
|
电子调速微型异步电动机通用技术条件
|
|
GB/T 2658-1995
|
小型交流风机通用技术条件
|
|
GB/T 7345-1994
|
控制微电机基本技术要求
|
|
GB/T 14818-1993
|
线绕盘式直流伺服电动机通用技术条件
|
|
GB/T 13537-1992
|
电子类家用电器用电动机通用技术条件
|
|
GB/T 10401-1989
|
永磁式直流力矩电动机通用技术条件
|
|
GB/T 14619-1993
|
厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
|
|
GB/T 14620-1993
|
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
|
|
GB/T 12633-1990
|
压电晶体性能测试术语
|
|
GB/T 12634-1990
|
压电晶体电弹常数测试方法
|
|
GB/T 11293-1989
|
固体激光材料名词术语
|
|
GB/T 11309-1989
|
压电陶瓷材料性能测试方法 纵向压电应变常数d33的准静态测试
|
|
GB/T 11310-1989
|
压电陶瓷材料性能测试方法 相对自由介电常数温度特性的测试
|
|
GB/T 11311-1989
|
压电陶瓷材料性能测试方法 泊松比σ**E的测试
|
|
GB/T 11312-1989
|
压电陶瓷材料和压电晶体声表面波性能测试方法
|
|
GB/T 11320-1989
|
压电陶瓷材料性能测试方法 低机械品质因数压电陶瓷材料性能的测试
|
|
GB/T 11496.1-1989
|
彩色显示管用Y30-G1荧光粉
|
|
GB/T 11496.2-1989
|
彩色显示管用Y30-B1荧光粉
|
|
GB/T 11496.3-1989
|
彩色显示管用Y30-R1荧光粉
|
|
GB/T 10304.1-1988
|
阴极碳酸盐分析方法通则
|
|
GB/T 10306-1988
|
阴极碳酸盐
|
|
GB/T 9489.1-1988
|
刚玉粉分析方法通则
|
|
GB/T 7265.1-1987
|
固体电介质微波复介电常数的测试方法 微扰法
|
|
GB/T 7265.2-1987
|
固体电介质微波复介电常数的测试方法 “开式腔”法
|
|
GB/T 7423.1-1987
|
半导体器件散热器 通用技术条件
|
|
GB/T 7423.2-1987
|
半导体器件散热器 型材散热器
|
|
GB/T 7423.3-1987
|
半导体器件散热器 叉指形散热器
|
|
GB/T 5838-1986
|
荧光粉名词术语
|
|
GB/T 6453-1986
|
吸气用锆铝合金复合带材
|
|
GB/T 6454-1986
|
吸气用锆铝合金环件和片件
|
|
GB/T 6455-1986
|
释汞吸气用复合带材
|
|
GB/T 6625-1986
|
掺氮吸气剂含氮量测试方法
|
|
GB/T 6626.1-1986
|
释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂释汞特性的测试方法
|
|
GB/T 6626.2-1986
|
释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂含汞量的测试方法
|
|
GB/T 6626.3-1986
|
释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂放气量的测试方法
|
|
GB/T 6626.4-1986
|
释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂压粉牢固度的检测方法
|
|
GB/T 5594.1-1985
|
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
|
|
GB/T 5594.2-1985
|
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法
|
|
GB/T 5594.3-1985
|
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法
|
|
GB/T 5594.4-1985
|
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法
|
|
GB/T 5594.5-1985
|
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
|
|
GB/T 5594.6-1985
|
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法
|
|
GB/T 5594.7-1985
|
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法
|
|
GB/T 5594.8-1985
|
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
|
|
GB/T 5598-1985
|
氧化铍瓷导热系数测定方法
|